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检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910917501.9
申请日
:
2019-09-26
公开(公告)号
:
CN112557684B
公开(公告)日
:
2025-06-13
发明(设计)人
:
张湛
申请人
:
京东方科技集团股份有限公司
北京京东方健康科技有限公司
申请人地址
:
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
IPC主分类号
:
G01N35/10
IPC分类号
:
G01N33/50
G01N33/52
G01N33/86
G01N33/569
G01N33/531
代理机构
:
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
:
曹芳;申屠伟进
法律状态
:
授权
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-06-13
授权
授权
共 50 条
[1]
检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法
[P].
张湛
论文数:
0
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0
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0
张湛
.
中国专利
:CN112557684A
,2021-03-26
[2]
检测芯片、检测设备、检测系统
[P].
张湛
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0
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0
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0
张湛
.
中国专利
:CN212410623U
,2021-01-26
[3]
检测设备、检测系统和检测方法
[P].
王翔
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王翔
;
孟凡武
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孟凡武
;
王义
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王义
.
中国专利
:CN110487818A
,2019-11-22
[4]
芯片检测系统及检测方法
[P].
郭健强
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郭健强
.
中国专利
:CN103823149A
,2014-05-28
[5]
检测设备、检测系统和检测方法
[P].
久保田修司
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久保田修司
.
中国专利
:CN113574417A
,2021-10-29
[6]
芯片早夭失效的检测方法和检测系统
[P].
崔丽娜
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机构:
南京伟测半导体科技有限公司
南京伟测半导体科技有限公司
崔丽娜
;
郭敬
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机构:
南京伟测半导体科技有限公司
南京伟测半导体科技有限公司
郭敬
;
王学让
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机构:
南京伟测半导体科技有限公司
南京伟测半导体科技有限公司
王学让
.
中国专利
:CN119827957A
,2025-04-15
[7]
检测系统和检测方法
[P].
李斌
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李斌
;
印少荣
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印少荣
.
中国专利
:CN114509393A
,2022-05-17
[8]
检测系统、检测方法及检测设备
[P].
陈鲁
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陈鲁
;
方一
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方一
;
黄有为
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黄有为
;
魏林鹏
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魏林鹏
;
张嵩
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张嵩
.
中国专利
:CN114624004A
,2022-06-14
[9]
检测设备及其检测方法、检测系统
[P].
戴宜捷
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机构:
深圳引望智能技术有限公司
深圳引望智能技术有限公司
戴宜捷
.
中国专利
:CN119104268A
,2024-12-10
[10]
高通量菌落检测芯片、检测系统和检测方法
[P].
亓琳琳
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亓琳琳
;
顾志鹏
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顾志鹏
;
聂富强
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聂富强
.
中国专利
:CN105886386A
,2016-08-24
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