微纳间隙测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510403050.2

申请日：

2025-04-01

公开(公告)号：

CN120141328A

公开(公告)日：

2025-06-13

发明(设计)人：

罗先刚张一娇刘明刚孙云卿李成文利武智朋

申请人：

中国科学院光电技术研究所

申请人地址：

610209 四川省成都市双流区光电大道1号

IPC主分类号：

G01B11/14

IPC分类号：

G01B11/02 G01B11/06

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

李婉婉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/14申请日:20250401
2025-06-13	公开	公开

共 50 条

[1]

间隙测量方法 [P].

许德强 ;

熊康元 ;

蔡建成 ;

徐靖驰 ;

翁万卿 ;

魏巍 ;

卢强波 ;

黄伟 ;

郑韩远 .

中国专利 :CN118654623B ,2025-01-28

[2]

间隙测量方法 [P].

许德强 ;

熊康元 ;

蔡建成 ;

徐靖驰 ;

翁万卿 ;

魏巍 ;

卢强波 ;

黄伟 ;

郑韩远 .

中国专利 :CN118654623A ,2024-09-17

[3]

间隙测量装置以及间隙测量方法 [P].

佐佐野祐一 ;

吉富圭 ;

后藤拓也 ;

窪田隆博 .

中国专利 :CN108369093A ,2018-08-03

[4]

超导芯片微纳加工侧壁倾角测量方法、装置、设备及介质 [P].

刘玉琪 ;

宿非凡 ;

邓辉 ;

严凯 ;

张海斌 ;

荣皓 ;

胡晨静 ;

王晓敏 ;

任颂家 .

中国专利 :CN120313479A ,2025-07-15

[5]

气门间隙测量方法 [P].

纪庆龙 ;

王玺 .

中国专利 :CN118242970A ,2024-06-25

[6]

间隙辅助测量方法 [P].

王邦 ;

卓宏达 ;

钱可为 ;

青山高久 .

中国专利 :CN101682853A ,2010-03-24

[7]

轴瓦间隙测量方法 [P].

车晋绥 .

中国专利 :CN106871767A ,2017-06-20

[8]

楔形间隙测量尺及间隙测量方法 [P].

于广福 ;

于晓霞 ;

于广友 .

中国专利 :CN120800140A ,2025-10-17

[9]

临界放电间隙的测量方法 [P].

郭常宁 ;

刘刚 ;

赵晓明 ;

裴景玉 ;

倪阳 .

中国专利 :CN101229622B ,2008-07-30

[10]

间隙测量控制系统、间隙测量系统、标定方法及测量方法 [P].

罗先刚 ;

褚燕武 ;

龚天诚 ;

赵承伟 ;

贾桂园 ;

何颖 ;

王彦钦 ;

王长涛 .

中国专利 :CN119268576A ,2025-01-07

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