晶圆检测方法、系统、装置、存储介质、计算机程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510130804.1

申请日：

2025-02-05

公开(公告)号：

CN120198354A

公开(公告)日：

2025-06-24

发明(设计)人：

高红超吴志华肖昌虎江维邓永沧卢盛林

申请人：

广东奥普特科技股份有限公司

申请人地址：

523846 广东省东莞市长安镇长安兴发南路66号之一

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G01N21/95 G06T7/70

代理机构：

北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315

代理人：

李潇

法律状态：

公开

国省代码：

广东省肇庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-24	公开	公开
2025-07-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250205

共 50 条

[1]

晶圆检测方法、系统、装置、存储介质、计算机程序产品 [P].

吴志华 ;

高红超 ;

肖昌虎 ;

田桂 .

中国专利 :CN120198355A ,2025-06-24

[2]

晶圆检测方法、装置、设备、存储介质和计算机程序产品 [P].

黄志贤 ;

张婉 ;

方建智 ;

许凯迪 ;

刘凯文 .

中国专利 :CN115579312A ,2023-01-06

[3]

晶圆检测方法、系统、电子设备、存储介质及计算机程序产品 [P].

韩俊伟 .

中国专利 :CN118676014A ,2024-09-20

[4]

晶圆数片方法、装置、存储介质及计算机程序产品 [P].

黄志炜 ;

李瑞 .

中国专利 :CN119273688A ,2025-01-07

[5]

检测方法、装置、计算机可读存储介质、计算机程序产品及芯片 [P].

曾庆苑 ;

张永利 ;

任园园 ;

柳涛 ;

康婷玉 .

中国专利 :CN118226304A ,2024-06-21

[6]

缺陷检测方法及装置、存储介质、计算机程序产品 [P].

何军红 .

中国专利 :CN120976160A ,2025-11-18

[7]

检测方法、装置、设备、存储介质以及计算机程序产品 [P].

谢天培 ;

赵宇翔 ;

林文英 ;

余立 ;

范胡磊 ;

许一宁 ;

毛思颖 ;

刘思琪 .

中国专利 :CN118799616A ,2024-10-18

[8]

晶圆损伤检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

陆鑫 ;

郭磊 ;

魏琛 ;

童浩峰 ;

黄春美 ;

桂超 ;

朱振华 ;

李大龙 ;

李逸园 .

中国专利 :CN120431021A ,2025-08-05

[9]

行为检测方法、存储介质及计算机程序产品 [P].

柴璇 ;

吴勇 ;

赵国治 ;

吴欣怡 ;

薛飞 ;

贺强 .

中国专利 :CN119625821A ,2025-03-14

[10]

检测方法、检测系统、存储介质及计算机程序产品 [P].

刘慧 ;

张开宇 ;

齐鹏飞 .

中国专利 :CN121213854A ,2025-12-26

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