芯片的双面检测机构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202421240935.2
申请日
2024-05-31
公开(公告)号
CN222979482U
公开(公告)日
2025-06-13
发明(设计)人
许培元
申请人
宁波微视智能科技有限公司
申请人地址
315000 浙江省宁波市鄞州区首南街道学士路642弄2号卓悦大厦808室
IPC主分类号
G01N21/956
IPC分类号
G01N21/01 G01N21/13
代理机构
宁波协众智库专利代理事务所(普通合伙) 33425
代理人
骆家峰
法律状态
授权
国省代码
浙江省 宁波市
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共 50 条
[1]
芯片检测机构 [P]. 
王珲荣 ;
肖鹏 ;
谢小玄 .
中国专利 :CN221174418U ,2024-06-18
[2]
双面检测机构 [P]. 
李龙强 ;
罗金 .
中国专利 :CN213022828U ,2021-04-20
[3]
芯片框架摆正检测机构 [P]. 
朱善政 ;
赵康 .
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[4]
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[5]
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张承宁 .
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[6]
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冼平东 ;
吴述林 ;
容金波 .
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[7]
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韩宏德 .
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[8]
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[9]
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[10]
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