光学检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421688370.4

申请日：

2024-07-16

公开(公告)号：

CN223051154U

公开(公告)日：

2025-07-01

发明(设计)人：

王伟杰郭温良高军峰林至善

申请人：

纮华电子科技(上海)有限公司

申请人地址：

201801 上海市嘉定区马陆镇嘉新公路1355号

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/13 G01N21/88

代理机构：

隆天知识产权代理有限公司 72003

代理人：

宋洋

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-01	授权	授权

共 50 条

[1]

光学检测设备 [P].

王伟杰 ;

郭温良 ;

高军峰 ;

林至善 .

中国专利 :CN223051153U ,2025-07-01

[2]

光学检测设备 [P].

庄春明 .

中国专利 :CN204086165U ,2015-01-07

[3]

一种光学检测设备 [P].

祝鹏程 ;

叶坤 ;

商秋锋 .

中国专利 :CN208906166U ,2019-05-28

[4]

扫描检测装置及光学检测设备 [P].

陈胜鹏 .

中国专利 :CN217542841U ,2022-10-04

[5]

光学检测设备 [P].

李建志 .

中国专利 :CN204882389U ,2015-12-16

[6]

光学检测设备 [P].

云奋蛟 ;

张龙 ;

王赢 ;

朱燕明 ;

陈鲁 ;

张嵩 .

中国专利 :CN221260828U ,2024-07-02

[7]

光学检测设备 [P].

许武 ;

王泽军 .

中国专利 :CN216525412U ,2022-05-13

[8]

光学检测设备 [P].

张权 ;

吕明高 ;

刘开先 ;

杜国徽 .

中国专利 :CN208303257U ,2019-01-01

[9]

光学检测设备 [P].

计其林 ;

刘文迪 .

中国专利 :CN206470531U ,2017-09-05

[10]

光学检测设备 [P].

粱国春 ;

刘文迪 ;

叶小伟 ;

沈科良 ;

徐微波 .

中国专利 :CN207300548U ,2018-05-01

← 1 2 3 4 5 →