RRAM忆阻器的耐久性测试方法、装置、电子设备和介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510314405.0

申请日：

2025-03-17

公开(公告)号：

CN119851744B

公开(公告)日：

2025-07-04

发明(设计)人：

周睿晰时拓崔狮雨陈美文

申请人：

之江实验室

申请人地址：

311121 浙江省杭州市余杭区中泰街道科创大道之江实验室

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/00

代理机构：

北京博思佳知识产权代理有限公司 11415

代理人：

黄丽娜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20250317
2025-07-04	授权	授权
2025-04-18	公开	公开

共 50 条

[1]

RRAM忆阻器的耐久性测试方法、装置、电子设备和介质 [P].

周睿晰 ;

时拓 ;

崔狮雨 ;

陈美文 .

中国专利 :CN119851744A ,2025-04-18

[2]

耐久性测试方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P].

陆文雅 ;

陈信举 ;

李丹 .

中国专利 :CN119199003A ,2024-12-27

[3]

电子设备耐久性测试装置 [P].

李烨 ;

陈诚 ;

龙丽丽 .

中国专利 :CN223389835U ,2025-09-26

[4]

忆阻器的测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

崔狮雨 ;

时拓 ;

周睿晰 ;

陈美文 .

中国专利 :CN120183478A ,2025-06-20

[5]

芯片耐久性的预测方法、装置、介质、及电子设备 [P].

许晓欣 ;

郑旭 ;

吴立舟 ;

薛晓勇 ;

庞婉 .

中国专利 :CN118468682A ,2024-08-09

[6]

RRAM的测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

崔狮雨 ;

时拓 ;

周睿晰 ;

陈美文 ;

顾子熙 ;

李一琪 .

中国专利 :CN120183479A ,2025-06-20

[7]

忆阻器、制备方法和电子设备 [P].

单玉凤 ;

阮罗渊 ;

白石根 ;

林虹宇 ;

宋睿烜 ;

杜瑀 ;

邓惠勇 ;

戴宁 .

中国专利 :CN117729778A ,2024-03-19

[8]

轮毂电机角模块的工况耐久性测试方法、装置及电子设备 [P].

高丰岭 ;

武振 ;

王伟 ;

梁荣亮 ;

王文军 ;

雷斌 ;

王长青 ;

吴诗雨 ;

郭东东 ;

郭玉凤 ;

耿号 ;

郭胤良 .

中国专利 :CN119533915A ,2025-02-28

[9]

轮毂电机角模块机械耐久性测试方法、装置及电子设备 [P].

高丰岭 ;

王伟 ;

武振 ;

梁荣亮 ;

郑宏 ;

张晓辉 ;

刘亚欧 ;

李良雨 ;

郭瑞玲 ;

郭婷 ;

费员军 ;

吴文文 .

中国专利 :CN119533914A ,2025-02-28

[10]

一种电动推杆耐久性测试装置、方法、电子设备及存储介质 [P].

陈永祥 ;

谢小彪 .

中国专利 :CN120594049A ,2025-09-05

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