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測定システム、測定方法及びプログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230207914
申请日
:
2023-12-08
公开(公告)号
:
JP2025092191A
公开(公告)日
:
2025-06-19
发明(设计)人
:
NAKANO TAKASHI
MATSUI MINEFUMI
KISHIMOTO KAZUYA
OKA HIROSHI
KAGEYAMA YASUSHI
申请人
:
MITSUBISHI HEAVY IND LTD
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G21C17/02
IPC分类号
:
G01N23/204
G01T1/167
G01T3/00
G21C17/00
G21F5/015
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7583685B2
,2024-11-14
[2]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7311225B2
,2023-07-19
[3]
測定システム、測定方法、及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7639979B1
,2025-03-05
[4]
測定システム、測定方法及び測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6651480B2
,2020-02-19
[5]
測定システム、測定方法、測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7767785B2
,2025-11-12
[6]
測定システム、測定方法、及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7498842B1
,2024-06-12
[7]
測定システム、測定方法、及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7436887B2
,2024-02-22
[8]
測定方法、測定システム、及びプログラム[ja]
[P].
SUZUKI DAICHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECH
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECH
SUZUKI DAICHI
;
TERASAKI TADASHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECH
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECH
TERASAKI TADASHI
.
日本专利
:JP2024058092A
,2024-04-25
[9]
測定システム、測定方法及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7403092B2
,2023-12-22
[10]
測定システム、測定方法、測定プログラム、物体[ja]
[P].
日本专利
:JP2025157836A
,2025-10-16
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