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低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510766209.7
申请日：
2025-06-10
公开(公告)号：
CN120294544A
公开(公告)日：
2025-07-11
发明(设计)人：
王瀚锌
申请人：
杭州广立微电子股份有限公司
申请人地址：
310013 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人：
唐诗卉
法律状态：
公开
国省代码：
浙江省 杭州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-11 公开 公开
2025-09-16 授权 授权
2025-07-29 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250610
共 50 条
[1]
低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备 [P]. 
王瀚锌 .
中国专利 :CN120294544B ,2025-09-16
[2]
芯片引脚测试电路及设备 [P]. 
颜军 ;
王烈洋 ;
李光 ;
汤凡 ;
占连样 ;
陈像 ;
罗仲涛 ;
骆征兵 ;
刘雯智 .
中国专利 :CN114994497A ,2022-09-02
[3]
芯片引脚测试电路及设备 [P]. 
颜军 ;
王烈洋 ;
李光 ;
汤凡 ;
占连样 ;
陈像 ;
罗仲涛 ;
骆征兵 ;
刘雯智 .
中国专利 :CN114994497B ,2025-11-25
[4]
芯片引脚电路、芯片和芯片测试方法 [P]. 
李龙杰 .
中国专利 :CN108398627A ,2018-08-14
[5]
芯片测试引脚支撑装置及芯片测试设备 [P]. 
樊勇 ;
白洪朋 ;
张松鹤 .
中国专利 :CN217180976U ,2022-08-12
[6]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P]. 
历广绪 ;
张俊 .
中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20
[7]
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P]. 
历广绪 ;
张俊 .
中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25
[8]
测试电路及芯片测试方法 [P]. 
李家辉 ;
李伟 ;
胡凛 .
中国专利 :CN118465495A ,2024-08-09
[9]
测试电路及芯片测试方法 [P]. 
李家辉 ;
李伟 ;
胡凛 .
中国专利 :CN118465495B ,2025-03-07
[10]
芯片测试电路、芯片及测试设备 [P]. 
严波 ;
罗浚洲 ;
王悦 .
中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01
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