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一种芯片的测试方法及测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510394803.8
申请日：
2025-03-31
公开(公告)号：
CN120254341A
公开(公告)日：
2025-07-04
发明(设计)人：
文根发 金鹏
申请人：
苏州联讯仪器股份有限公司
申请人地址：
215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号：
G01R1/02
IPC分类号：
G01R1/04 G01R31/28 B65G47/91 B65G43/08 B07C5/344 B07C5/36 H01L21/67
代理机构：
北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391
代理人：
王颖
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/02申请日:20250331
2025-07-04 公开 公开
共 50 条
[1]
一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
卢苗 .
中国专利 :CN119805160B ,2025-09-19
[2]
一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
卢苗 .
中国专利 :CN119805160A ,2025-04-11
[3]
芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
孙文琪 ;
高伟 .
中国专利 :CN118519843B ,2024-12-06
[4]
芯片测试方法及芯片测试系统 [P]. 
孙文琪 ;
高伟 .
中国专利 :CN118519843A ,2024-08-20
[5]
一种芯片测试系统及测试方法 [P]. 
谢登煌 .
中国专利 :CN119619809A ,2025-03-14
[6]
集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P]. 
凌献忠 ;
田敏 .
中国专利 :CN113219319B ,2024-03-12
[7]
集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P]. 
凌献忠 ;
田敏 .
中国专利 :CN113219319A ,2021-08-06
[8]
一种芯片测试模块及芯片测试系统 [P]. 
赵仕斌 ;
钟兴和 ;
喻梦婷 .
中国专利 :CN215641645U ,2022-01-25
[9]
射频芯片的测试系统及测试方法 [P]. 
孙梅芳 ;
江明 .
中国专利 :CN114325337A ,2022-04-12
[10]
射频芯片的测试系统及测试方法 [P]. 
江明 ;
孙梅芳 .
中国专利 :CN114325340B ,2024-01-19
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