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用于检测金属离子的光学传感器

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202323284725.1
申请日：
2023-12-04
公开(公告)号：
CN223078185U
公开(公告)日：
2025-07-08
发明(设计)人：
古康妮 M·Q·佘 F·H·宾蒂·贾马鲁丁
申请人：
伏尔甘光电私人有限公司
申请人地址：
马来西亚吉隆坡
IPC主分类号：
G01N21/45
IPC分类号：
代理机构：
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人：
王丽军
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-08 授权 授权
共 50 条
[1]
用于选择性检测金属离子的光学传感器 [P]. 
K·N·顾 ;
M·Q·佘 ;
F·H·宾蒂·贾马鲁丁 .
:CN222800606U ,2025-04-25
[2]
金属离子传感器和检测金属离子的方法 [P]. 
詹妮·杰·杨 ;
唐申 ;
优（乔伊）·卓 .
中国专利 :CN108164591B ,2018-06-15
[3]
金属离子传感器和检测金属离子的方法 [P]. 
詹妮·杰·杨 ;
唐申 ;
优（乔伊）·卓 .
中国专利 :CN105612426B ,2016-05-25
[4]
用于检测离子的光学传感器 [P]. 
A·阿尔德 ;
S·巴纳德 ;
J·伯格 .
中国专利 :CN1144559A ,1997-03-05
[5]
光学传感器、用于选择光学传感器的方法和用于光学检测的检测器 [P]. 
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
S·穆勒 ;
R·赫 ;
H·贝克特尔 ;
T·阿尔腾贝克 ;
F·迪特曼 ;
B·福伊尔施泰因 ;
T·胡普福尔 ;
A·汉德瑞克 ;
R·古斯特 ;
P·P·卡莱塔 ;
R·森德 ;
H·魏因多克 ;
I·亨尼格 ;
S·古里亚诺瓦 .
中国专利 :CN113632242A ,2021-11-09
[6]
光学传感器、用于选择光学传感器的方法和用于光学检测的检测器 [P]. 
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
S·穆勒 ;
R·赫 ;
H·贝克特尔 ;
T·阿尔腾贝克 ;
F·迪特曼 ;
B·福伊尔施泰因 ;
T·胡普福尔 ;
A·汉德瑞克 ;
R·古斯特 ;
P·P·卡莱塔 ;
R·森德 ;
H·魏因多克 ;
I·亨尼格 ;
S·古里亚诺瓦 .
德国专利 :CN113632242B ,2024-10-01
[7]
用于光学检测的光学传感器和检测器 [P]. 
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
S·穆勒 ;
R·赫 ;
H·贝克特尔 ;
T·阿尔腾贝克 ;
F·迪特曼 ;
B·福伊尔施泰因 ;
T·胡普福尔 ;
A·汉德瑞克 ;
R·古斯特 ;
P·P·卡莱塔 ;
D·克尔布莱因 ;
R·森德 .
中国专利 :CN113491016A ,2021-10-08
[8]
光学传感器和用于光学检测的检测器 [P]. 
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
R·森德 ;
I·布鲁德 ;
B·福伊尔施泰因 .
中国专利 :CN109564927A ,2019-04-02
[9]
光学传感器和用于光学检测的检测器 [P]. 
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
S·穆勒 ;
R·赫 ;
H·贝克特尔 ;
T·阿尔腾贝克 ;
F·迪特曼 ;
B·福伊尔施泰因 ;
T·胡普福尔 ;
A·汉德瑞克 ;
R·古斯特 ;
R·森德 ;
I·布鲁德 .
中国专利 :CN113302750A ,2021-08-24
[10]
用于光学检测的光学传感器和检测器 [P]. 
W·赫尔梅斯 ;
S·瓦鲁施 ;
S·穆勒 ;
R·赫 ;
H·贝克特尔 ;
T·阿尔腾贝克 ;
F·迪特曼 ;
B·福伊尔施泰因 ;
T·胡普福尔 ;
A·汉德瑞克 ;
R·古斯特 ;
P·P·卡莱塔 ;
D·克尔布莱因 ;
R·森德 .
德国专利 :CN113491016B ,2025-10-17
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