学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
三次元測定装置、三次元測定方法及び三次元測定プログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230207998
申请日
:
2023-12-08
公开(公告)号
:
JP2025092238A
公开(公告)日
:
2025-06-19
发明(设计)人
:
IGARASHI SHUNSUKE
申请人
:
KEYENCE CO LTD
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B11/25
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
三次元測定装置及び三次元測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6194226B2
,2017-09-06
[2]
三次元測定装置及び三次元測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7202966B2
,2023-01-12
[3]
三次元測定機及び三次元測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7138284B2
,2022-09-16
[4]
三次元測定機、及び三次元測定機の測定方法、[ja]
[P].
日本专利
:JP7458579B2
,2024-04-01
[5]
三次元測定機および三次元測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7000037B2
,2022-01-19
[6]
三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7328824B2
,2023-08-17
[7]
三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7219034B2
,2023-02-07
[8]
三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7649145B2
,2025-03-19
[9]
三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7515979B2
,2024-07-16
[10]
三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7332386B2
,2023-08-23
←
1
2
3
4
5
→