缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510285235.8

申请日：

2025-03-11

公开(公告)号：

CN120278954A

公开(公告)日：

2025-07-08

发明(设计)人：

张建伟王云婷

申请人：

清华大学

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/44 G06V10/764 G06V10/774 G06V10/82 G06N3/0464

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司 11606

代理人：

钟文聪

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-08	公开	公开
2025-07-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250311

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和产品 [P].

朱闻博 ;

惠宝军 ;

罗向源 ;

赵林杰 ;

陈喜鹏 ;

朱文滔 ;

傅明利 ;

张鹏 ;

陈林昊 ;

侯帅 ;

冯宾 ;

展云鹏 ;

陈云 ;

陈铸成 ;

张鸣 ;

张俊 ;

孙钦章 .

中国专利 :CN118411347A ,2024-07-30

[2]

缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

高斌斌 .

中国专利 :CN115861156B ,2025-10-31

[3]

产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

易振彧 ;

潘阳山 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119516261A ,2025-02-25

[4]

产品缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

孙嘉福 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN119992159A ,2025-05-13

[5]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

陈晓炬 ;

杜松 ;

孙晓嫣 ;

叶美仪 .

美国专利 :CN118446982A ,2024-08-06

[6]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06

[7]

PCB板缺陷检测方法、装置、存储介质和计算机设备 [P].

吕杰 ;

张晖 ;

万斌 .

中国专利 :CN118037663A ,2024-05-14

[8]

检测装置、缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

高金伙 ;

李海波 ;

张凤琳 ;

于广东 ;

李后勇 ;

罗宇 .

中国专利 :CN118067747A ,2024-05-24

[9]

检测装置、缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

高金伙 ;

李海波 ;

张凤琳 ;

于广东 ;

李后勇 ;

罗宇 .

中国专利 :CN115508389A ,2022-12-23

[10]

缺陷检测方法及装置、存储介质、计算机程序产品 [P].

何军红 .

中国专利 :CN120976160A ,2025-11-18

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