日志数据测试方法及装置、系统、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811519316.6

申请日：

2018-12-12

公开(公告)号：

CN111309585B

公开(公告)日：

2025-07-15

发明(设计)人：

赵晶晶周奇

申请人：

北京京东尚科信息技术有限公司北京京东世纪贸易有限公司

申请人地址：

100086 北京市海淀区知春路76号8层

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

袁礼君;阚梓瑄

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-15	授权	授权

共 50 条

[1]

日志数据测试方法及装置、系统、电子设备、存储介质 [P].

赵晶晶 ;

周奇 .

中国专利 :CN111309585A ,2020-06-19

[2]

数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

向乾 ;

尤薇 ;

李桂芸 .

中国专利 :CN113434414A ,2021-09-24

[3]

大数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张婉 .

中国专利 :CN114416845A ,2022-04-29

[4]

数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

苏艾 ;

陈涛 ;

柯雄 .

中国专利 :CN113868141A ,2021-12-31

[5]

数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

苏艾 ;

陈涛 ;

柯雄 .

中国专利 :CN113868141B ,2025-02-28

[6]

数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王正峯 .

中国专利 :CN113780691A ,2021-12-10

[7]

数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

熊施 ;

谢家宝 ;

吴林峰 ;

刘道莉 ;

杨勇 ;

兰天 .

中国专利 :CN119690826A ,2025-03-25

[8]

数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱建华 .

中国专利 :CN111858927A ,2020-10-30

[9]

数据测试方法、电子设备及存储介质 [P].

杨祖放 .

中国专利 :CN118155698B ,2024-08-06

[10]

数据测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许航 ;

吴旭 .

中国专利 :CN111782507B ,2024-04-30

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