设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510388423.3
申请日
2025-03-28
公开(公告)号
CN120240739A
公开(公告)日
2025-07-04
发明(设计)人
殷娟 陆文 王登军
申请人
深圳市基克纳科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区西乡街道劳动社区前海科兴科学园1号楼605
IPC主分类号
A24F40/53
IPC分类号
A24F40/40 A24F40/50
代理机构
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人
马兴云
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
钟蔚潮 ;
李木栅 .
中国专利 :CN121014954A ,2025-11-28
[2]
设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 ;
王永超 ;
刘才学 .
中国专利 :CN119699686A ,2025-03-28
[3]
设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 ;
周云飞 .
中国专利 :CN119867399A ,2025-04-25
[4]
设备加热方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 .
中国专利 :CN120345750A ,2025-07-22
[5]
设备省电方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 ;
王永超 ;
刘才学 .
中国专利 :CN119867394A ,2025-04-25
[6]
设备清理方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 .
中国专利 :CN120188937A ,2025-06-24
[7]
设备交互方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 ;
王永超 ;
刘才学 .
中国专利 :CN120436383A ,2025-08-08
[8]
设备显示方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 ;
王永超 ;
刘才学 .
中国专利 :CN119769790A ,2025-04-08
[9]
设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
张金 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120778408A ,2025-10-14
[10]
设备检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王登军 ;
王永超 ;
刘才学 .
中国专利 :CN120028062A ,2025-05-23