环境光强度的检测方法和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280000898.5

申请日：

2022-04-22

公开(公告)号：

CN115104014B

公开(公告)日：

2025-07-04

发明(设计)人：

彭全李顺

申请人：

深圳市汇顶科技股份有限公司

申请人地址：

518045 广东省深圳市福田区保税区腾飞工业大厦B座13层

IPC主分类号：

G01J1/42

IPC分类号：

G09G3/20 G09G3/3208

代理机构：

北京合智同创知识产权代理有限公司 11545

代理人：

李杰

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省宁波市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-04	授权	授权

共 50 条

[1]

环境光强度的检测方法和电子设备 [P].

彭全 ;

李顺 .

中国专利 :CN115104014A ,2022-09-23

[2]

环境光强度检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张海平 ;

周意保 .

中国专利 :CN108021161A ,2018-05-11

[3]

环境光强度检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张海平 ;

周意保 .

中国专利 :CN107945770A ,2018-04-20

[4]

环境光强度检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张海平 ;

周意保 .

中国专利 :CN107941330A ,2018-04-20

[5]

环境光强度检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张海平 ;

周意保 .

中国专利 :CN107945769B ,2018-04-20

[6]

环境光强度检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张海平 ;

周意保 .

中国专利 :CN107957294A ,2018-04-24

[7]

环境光强度校准方法、装置及电子设备 [P].

刘登宽 ;

张晓彬 ;

李广志 ;

夏丽林 .

中国专利 :CN113132532B ,2021-07-16

[8]

一种环境光强度的检测方法、电子设备、存储介质和芯片 [P].

向超 ;

雷财华 .

中国专利 :CN119252159A ,2025-01-03

[9]

一种环境光强度的检测方法、电子设备、存储介质和芯片 [P].

向超 ;

雷财华 .

中国专利 :CN119252159B ,2025-09-05

[10]

电子设备的环境光强度的计算方法、相关电子设备和芯片 [P].

付恩琪 ;

钟松锦 ;

程雷刚 .

中国专利 :CN114613317A ,2022-06-10

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