考虑多应力工况耦合作用的元器件加速退化建模方法、存储介质及设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510312742.6
申请日
2025-03-17
公开(公告)号
CN120217690A
公开(公告)日
2025-06-27
发明(设计)人
陈昊 王国栋 冯超 李健平 叶雪荣 胡义凡
申请人
哈尔滨工业大学
申请人地址
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
IPC主分类号
G06F30/20
IPC分类号
G06F119/02
代理机构
哈尔滨市松花江联合专利商标代理有限公司 23213
代理人
岳昕
法律状态
公开
国省代码
山东省 威海市
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共 50 条
[1]
一种基于多应力综合作用的加速退化建模评估方法 [P]. 
伊枭剑 ;
王哲哲 ;
刘树林 .
中国专利 :CN116522674B ,2024-10-11
[2]
考虑多应力耦合作用对产品退化影响的可靠性评估方法 [P]. 
叶雪荣 ;
胡义凡 ;
赵子川 ;
陈昊 ;
郑博恺 ;
于松民 ;
翟国富 .
中国专利 :CN114818348A ,2022-07-29
[3]
多应力工况下元器件性能退化不确定性与相关性量化分析方法、存储介质及设备 [P]. 
陈昊 ;
王国栋 ;
冯超 ;
李健平 ;
叶雪荣 ;
胡义凡 .
中国专利 :CN120197373A ,2025-06-24
[4]
元器件建模及参数化的方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
魏涛 ;
刘继硕 ;
钱胜杰 ;
刘丰收 .
中国专利 :CN114491922B ,2025-04-04
[5]
元器件建模及参数化的方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
魏涛 ;
刘继硕 ;
钱胜杰 ;
刘丰收 .
中国专利 :CN114491922A ,2022-05-13
[6]
元器件的替换方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
张定农 ;
郑凯强 ;
张世杰 .
中国专利 :CN115835498B ,2025-08-01
[7]
电子元器件分类方法、设备及存储介质 [P]. 
王鸿鹏 ;
王子涵 ;
薛睿 ;
程正涛 ;
宋兴浩 .
中国专利 :CN118115795A ,2024-05-31
[8]
电子元器件的归类方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
邝迎波 ;
李六七 ;
张兴瑜 ;
杜飞 .
中国专利 :CN114239571A ,2022-03-25
[9]
元器件的视觉检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
何元钦 ;
毕海 .
中国专利 :CN121121174A ,2025-12-12
[10]
电子元器件搜索方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
谢国清 ;
林颖朝 .
中国专利 :CN114912002A ,2022-08-16