测试电路和测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110351416.8

申请日：

2021-03-31

公开(公告)号：

CN113030668B

公开(公告)日：

2025-07-11

发明(设计)人：

王智宇王其俊

申请人：

中核检修有限公司

申请人地址：

200000 上海市青浦区蟠龙路500号-1

IPC主分类号：

G01R31/12

IPC分类号：

G01R31/14 G01R31/54 G01R31/58 G01R1/04

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

张全文

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-11	授权	授权

共 50 条

[1]

测试电路和测试装置 [P].

王智宇 ;

王其俊 .

中国专利 :CN113030668A ,2021-06-25

[2]

测试电路和测试装置 [P].

王智宇 ;

王其俊 .

中国专利 :CN215526006U ,2022-01-14

[3]

灯板测试电路、测试板和测试装置 [P].

余义江 ;

丁国清 ;

汪军 ;

徐勋明 ;

王次平 ;

丁崇彬 .

中国专利 :CN218298432U ,2023-01-13

[4]

测试电路及其测试装置 [P].

陈健纯 ;

纪泽轩 ;

邹炜 ;

郑宋勇 ;

靳珂珂 .

中国专利 :CN118348374B ,2024-10-01

[5]

测试电路及其测试装置 [P].

陈健纯 ;

纪泽轩 ;

邹炜 ;

郑宋勇 ;

靳珂珂 .

中国专利 :CN118348374A ,2024-07-16

[6]

电阻芯片的测试电路、测试装置和测试系统 [P].

王英广 ;

韦敏荣 ;

栗伟斌 ;

李建强 ;

李晓白 .

中国专利 :CN213302427U ,2021-05-28

[7]

多量程测试电路和多量程测试装置 [P].

毛广甫 .

中国专利 :CN212872607U ,2021-04-02

[8]

多量程测试电路和多量程测试装置 [P].

毛广甫 .

中国专利 :CN113866474A ,2021-12-31

[9]

信号测试电路、测试芯片及测试装置 [P].

赖俊生 .

中国专利 :CN119575049B ,2025-04-18

[10]

信号测试电路、测试芯片及测试装置 [P].

赖俊生 .

中国专利 :CN119575049A ,2025-03-07

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