量子点发光器件的检测方法及检测系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311848298.7
申请日
2023-12-28
公开(公告)号
CN120233197A
公开(公告)日
2025-07-01
发明(设计)人
王成
申请人
TCL科技集团股份有限公司
申请人地址
516000 广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
IPC主分类号
G01R31/26
IPC分类号
G01M11/02
代理机构
深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570
代理人
吴莉莉
法律状态
公开
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
量子点发光器件及量子点发光器件的制备方法 [P]. 
徐超 .
中国专利 :CN105489782A ,2016-04-13
[2]
量子点发光器件的制备方法及量子点发光器件 [P]. 
完亮亮 ;
龙能文 ;
管子豪 .
中国专利 :CN111864124A ,2020-10-30
[3]
量子点发光器件的制作方法及量子点发光器件 [P]. 
周志超 ;
夏慧 .
中国专利 :CN106410058A ,2017-02-15
[4]
量子点发光器件图案化方法及量子点发光器件 [P]. 
樊勇 .
中国专利 :CN110707200B ,2020-01-17
[5]
量子点发光器件的制备方法、量子点发光器件及显示器件 [P]. 
敖资通 ;
严怡然 ;
张建新 ;
杨帆 ;
莫新娣 ;
洪佳婷 .
中国专利 :CN115605061A ,2023-01-13
[6]
量子点发光层、量子点发光器件及制备方法 [P]. 
代青 .
中国专利 :CN109256476A ,2019-01-22
[7]
一种量子点发光器件的制备方法及量子点发光器件 [P]. 
李东 .
中国专利 :CN109659450A ,2019-04-19
[8]
量子点发光器件 [P]. 
彭笑刚 ;
金一政 ;
戴兴良 ;
张振星 ;
赵飞 .
中国专利 :CN103904178A ,2014-07-02
[9]
量子点发光器件 [P]. 
孙健 .
中国专利 :CN206293475U ,2017-06-30
[10]
量子点发光器件 [P]. 
A·N·索科洛夫 ;
B·古德费洛 ;
R·D·格里格 ;
L·P·斯宾塞 ;
J·W·克雷默 ;
D·D·德沃尔 ;
S·穆克霍培德海耶 ;
P·特雷夫纳斯三世 .
中国专利 :CN109328402B ,2019-02-12