归因测试方法、装置、电子设备、存储介质和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311827918.9

申请日：

2023-12-27

公开(公告)号：

CN120234233A

公开(公告)日：

2025-07-01

发明(设计)人：

边裕挺王润杉李晔黄学武戴愉潔刘世豪张予欣

申请人：

北京字跳网络技术有限公司北京有竹居网络技术有限公司脸萌有限公司

申请人地址：

100190 北京市海淀区紫金数码园4号楼2层0207

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京远智汇知识产权代理有限公司 11659

代理人：

王倩娣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20231227
2025-07-01	公开	公开

共 50 条

[1]

归因方法、装置、电子设备和介质 [P].

石勇 ;

张弛 .

中国专利 :CN118229430A ,2024-06-21

[2]

广告归因的方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李冰心 ;

葛梦莹 .

中国专利 :CN113723998A ,2021-11-30

[3]

归因分析方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

齐凯凡 .

中国专利 :CN118798612A ,2024-10-18

[4]

测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

张琦 ;

李武 .

中国专利 :CN111159046B ,2024-04-09

[5]

测试方法、装置、系统、存储介质和电子设备 [P].

张涛 ;

李凯 ;

韩雨青 .

中国专利 :CN116773216B ,2024-05-31

[6]

测试系统、方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

牛玺童 ;

孔瑞瑞 ;

吴昊 ;

王邵玉 .

中国专利 :CN117665529A ,2024-03-08

[7]

测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

张琦 ;

李武 .

中国专利 :CN111159046A ,2020-05-15

[8]

测试方法和测试系统、电子设备、存储介质 [P].

黄雅楠 ;

张翔 ;

刘华洲 ;

许雷 .

中国专利 :CN115061907A ,2022-09-16

[9]

设备测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P].

彭炜 .

中国专利 :CN119669058A ,2025-03-21

[10]

设备测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

窦殿松 .

中国专利 :CN113505687A ,2021-10-15

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