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一种用于平面型目标RCS测试的低散射载体
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510396542.3
申请日
:
2025-03-31
公开(公告)号
:
CN120254342A
公开(公告)日
:
2025-07-04
发明(设计)人
:
田文明
秦宗
白杨
杨景轩
戚开南
贺秋实
侯鑫
冀元
申请人
:
北京环境特性研究所
申请人地址
:
100854 北京市海淀区永定路50号
IPC主分类号
:
G01R1/02
IPC分类号
:
G01R29/08
代理机构
:
北京格允知识产权代理有限公司 11609
代理人
:
赵雅香
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
北京市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-22
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/02申请日:20250331
2025-07-04
公开
公开
共 50 条
[1]
一种用于天线的RCS测试的低散射载体
[P].
秦宗
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
秦宗
;
白杨
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
白杨
;
杨光照
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
杨光照
;
杨景轩
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
杨景轩
;
冀元
论文数:
0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
冀元
;
田文明
论文数:
0
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0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
田文明
.
中国专利
:CN120254343A
,2025-07-04
[2]
一种用于薄翼状目标RCS测试的低散射载体
[P].
张福祥
论文数:
0
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0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
张福祥
;
车永星
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
车永星
;
王登琦
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
王登琦
;
周昊天
论文数:
0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
周昊天
.
中国专利
:CN117849741A
,2024-04-09
[3]
一种用于RCS测试的低散射载体
[P].
贺军哲
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
贺军哲
;
戚开南
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
戚开南
;
孙新
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0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
孙新
;
张久霖
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
张久霖
;
贺秋实
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0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
贺秋实
;
张瑞冰
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
张瑞冰
.
中国专利
:CN117590346A
,2024-02-23
[4]
一种用于RCS测试的低散射载体
[P].
秦宗
论文数:
0
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秦宗
;
白杨
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白杨
;
刘芳
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刘芳
;
杨景轩
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杨景轩
;
冀元
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冀元
;
侯鑫
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0
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0
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侯鑫
.
中国专利
:CN115586494A
,2023-01-10
[5]
一种用于RCS测试的低散射载体
[P].
秦宗
论文数:
0
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0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
秦宗
;
白杨
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
白杨
;
杨景轩
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
杨景轩
;
侯鑫
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
侯鑫
;
冀元
论文数:
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
冀元
.
中国专利
:CN116027274B
,2025-08-12
[6]
一种用于RCS测试的低散射载体
[P].
秦宗
论文数:
0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
秦宗
;
白杨
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
白杨
;
杨景轩
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
杨景轩
;
侯鑫
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
侯鑫
;
冀元
论文数:
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
冀元
.
中国专利
:CN115856774B
,2025-08-12
[7]
一种用于RCS测试的低散射载体
[P].
戚开南
论文数:
0
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戚开南
;
汪勇峰
论文数:
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汪勇峰
;
袁晓峰
论文数:
0
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0
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0
袁晓峰
.
中国专利
:CN106428625A
,2017-02-22
[8]
一种用于机翼部件RCS测试的低散射载体
[P].
贺秋实
论文数:
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贺秋实
;
李欣
论文数:
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李欣
;
戚开南
论文数:
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0
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0
戚开南
.
中国专利
:CN114044164A
,2022-02-15
[9]
一种机翼前缘RCS测试的低散射载体
[P].
刘琦
论文数:
0
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0
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机构:
航天科工武汉磁电有限责任公司
航天科工武汉磁电有限责任公司
刘琦
;
胡俊
论文数:
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0
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机构:
航天科工武汉磁电有限责任公司
航天科工武汉磁电有限责任公司
胡俊
;
尹生
论文数:
0
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机构:
航天科工武汉磁电有限责任公司
航天科工武汉磁电有限责任公司
尹生
;
程博
论文数:
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机构:
航天科工武汉磁电有限责任公司
航天科工武汉磁电有限责任公司
程博
;
程明
论文数:
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机构:
航天科工武汉磁电有限责任公司
航天科工武汉磁电有限责任公司
程明
;
王俊鹏
论文数:
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机构:
航天科工武汉磁电有限责任公司
航天科工武汉磁电有限责任公司
王俊鹏
;
刘柳
论文数:
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0
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0
机构:
航天科工武汉磁电有限责任公司
航天科工武汉磁电有限责任公司
刘柳
.
中国专利
:CN119716776A
,2025-03-28
[10]
一种用于暗室背景电平评估测试的低散射载体
[P].
田文明
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
田文明
;
秦宗
论文数:
0
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0
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
秦宗
;
白杨
论文数:
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机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
白杨
;
杨景轩
论文数:
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0
机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
杨景轩
;
戚开南
论文数:
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引用数:
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0
机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
戚开南
;
贺秋实
论文数:
0
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0
机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
贺秋实
;
侯鑫
论文数:
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0
机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
侯鑫
;
冀元
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京环境特性研究所
北京环境特性研究所
冀元
.
中国专利
:CN120195631A
,2025-06-24
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