智能钥匙及射频天线的自动化闭环测试系统及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510366067.5
申请日
2025-03-26
公开(公告)号
CN120320879A
公开(公告)日
2025-07-15
发明(设计)人
程庚 黄涛 曹文亮 郑芳慧
申请人
东风汽车集团股份有限公司
申请人地址
430000 湖北省武汉市武汉经济技术开发区东风大道特1号
IPC主分类号
H04B17/318
IPC分类号
G01R29/10 H04B17/364 H04B17/00 G08C19/00 H04L12/40 G07C9/00
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
李菁芸
法律状态
实质审查的生效
国省代码
湖北省 孝感市
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共 50 条
[1]
射频芯片的自动化测试系统及测试方法 [P]. 
陈超 .
中国专利 :CN118330426A ,2024-07-12
[2]
基站射频自动化测试方法及系统 [P]. 
罗征 ;
刘从亮 ;
鲍春来 ;
马浩凯 .
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[3]
面向卫星的高精度自动化热控闭环测试系统及方法 [P]. 
沈阳阳 ;
房思超 ;
易进 ;
邢斯瑞 ;
戴路 ;
邹吉炜 ;
高伟 ;
李鑫 ;
任昊 ;
山峰 .
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[4]
自动化测试系统及方法 [P]. 
王明 .
中国专利 :CN116028367B ,2025-12-02
[5]
自动化测试方法及系统 [P]. 
王明亮 ;
余维应 ;
朱明 ;
谢龙 .
中国专利 :CN110235393A ,2019-09-13
[6]
一种满足开环与闭环测试需求的通用自动化测试系统及方法 [P]. 
柯旭 ;
刘顺涛 ;
曹琪 ;
莫文静 ;
向胜华 .
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[7]
射频指标自动化测试系统 [P]. 
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胡钟文 .
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[8]
自动化测试系统及自动化测试方法 [P]. 
陈飞腾 .
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[9]
自动化测试系统及自动化测试方法 [P]. 
周波 ;
潘奎宇 ;
邱晓纯 ;
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[10]
自动化测试方法及自动化测试系统 [P]. 
谷颖 .
中国专利 :CN105550088A ,2016-05-04