不良检测装置以及不良检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202180044011.8

申请日：

2021-01-21

公开(公告)号：

CN115769071B

公开(公告)日：

2025-07-04

发明(设计)人：

宗像広志麦可·柯比足立卓也

申请人：

雅马哈智能机器控股株式会社

申请人地址：

日本东京武藏村山市伊奈平二丁目51番地之1

IPC主分类号：

G01N29/04

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

李丹;臧建明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-04	授权	授权

共 50 条

[1]

涂胶不良检测系统以及涂胶不良检测方法 [P].

山崎正彦 .

中国专利 :CN105358965B ,2016-02-24

[2]

半导体集成电路的不良检测方法和不良检测装置 [P].

松下宏 ;

光武邦宽 ;

牛久幸广 .

中国专利 :CN1224089C ,2002-12-11

[3]

不良报文的检测方法及不良报文的检测装置 [P].

曹璐 ;

崔可升 ;

赵建福 .

中国专利 :CN102340424B ,2012-02-01

[4]

开孔不良检测装置及开孔不良检测方法 [P].

唐佩忠 .

中国专利 :CN102213586B ,2011-10-12

[5]

不良检测方法 [P].

新井贤 ;

吉田干 ;

内田正喜 .

中国专利 :CN107186900B ,2017-09-22

[6]

缝制不良检测装置 [P].

川人俊夫 ;

斋藤正仁 .

中国专利 :CN1341783A ,2002-03-27

[7]

不良品检测装置 [P].

林跃宗 ;

董任铭 ;

陈煌 ;

沈毅辉 ;

沈少鹏 .

中国专利 :CN214334832U ,2021-10-01

[8]

缝制不良检测装置 [P].

杉山元巳 .

中国专利 :CN104562481A ,2015-04-29

[9]

螺旋卷绕装置、不良卷绕检测系统及不良卷绕检测方法 [P].

赵昭燕 ;

宋命烈 ;

李正郁 ;

郑锡宪 .

中国专利 :CN102386372A ,2012-03-21

[10]

一种不良姿态检测方法、检测装置 [P].

孙梦南 .

中国专利 :CN113487566B ,2025-07-29

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