温度监管系统的测试方法、装置、设备、介质及程序产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510948148.6
申请日
2025-07-10
公开(公告)号
CN120429242A
公开(公告)日
2025-08-05
发明(设计)人
陈佳旭
申请人
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢
IPC主分类号
G06F11/3668
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
薛娇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
程序测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王平 ;
赵灵犀 ;
陈勃 .
中国专利 :CN121116804A ,2025-12-12
[2]
程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
李辉 ;
赵亚娟 ;
周雅慧 ;
郑东铭 ;
梁志伟 .
中国专利 :CN120892356B ,2025-12-16
[3]
程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
李辉 ;
赵亚娟 ;
周雅慧 ;
郑东铭 ;
梁志伟 .
中国专利 :CN120892356A ,2025-11-04
[4]
设备系统及其硬盘状态监测方法、设备、程序产品及介质 [P]. 
陈衍东 ;
李道童 ;
艾山彬 ;
王凯鹏 .
中国专利 :CN119311524A ,2025-01-14
[5]
温度控制的方法、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
满勇强 .
中国专利 :CN113760069A ,2021-12-07
[6]
应用程序的测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
由韶铎 .
中国专利 :CN120162270A ,2025-06-17
[7]
应用程序的测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
李思涵 ;
郭同刚 ;
杨晓梅 ;
陈建聪 ;
路茜 .
中国专利 :CN118193382A ,2024-06-14
[8]
测试方法、装置、设备、介质和程序产品 [P]. 
胡曌云 ;
王轶凡 ;
陈灿 .
中国专利 :CN117806977A ,2024-04-02
[9]
显示控制设备、系统、方法、介质及程序产品 [P]. 
汉阳 ;
叶丰华 ;
赵乐森 ;
宁辰 ;
王常林 .
中国专利 :CN120128746A ,2025-06-10
[10]
压力测试评估方法、装置、设备、介质及程序产品 [P]. 
陆斌 ;
杨卓俊 ;
黄俊文 ;
高正宇 .
中国专利 :CN114817074A ,2022-07-29