一种设备在位检测电路及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510508449.7
申请日
2025-04-22
公开(公告)号
CN120334809A
公开(公告)日
2025-07-18
发明(设计)人
陈楚峰 许胜国 杨清 周华 吴振东
申请人
武汉二进制半导体有限公司
申请人地址
430000 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区金融港一路7号神州数码武汉科技园27栋8楼8002室04号(自贸区武汉片区)
IPC主分类号
G01R31/68
IPC分类号
代理机构
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225
代理人
付国伟
法律状态
公开
国省代码
河北省 石家庄市
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共 50 条
[1]
一种PCIe设备在位检测电路 [P]. 
张博康 .
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[2]
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邓书豪 ;
潘灯海 ;
庹鸿 .
中国专利 :CN114467240A ,2022-05-10
[3]
一种电池在位检测电路、方法、电池、设备及系统 [P]. 
邓书豪 ;
潘灯海 ;
庹鸿 .
中国专利 :CN114467240B ,2025-10-14
[4]
电池在位检测电路、方法及智能穿戴设备 [P]. 
刘辉 .
中国专利 :CN109490789B ,2019-03-19
[5]
一种耳机在位检测电路及检测方法 [P]. 
刘渊 .
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[6]
一种在位信号检测电路及方法 [P]. 
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[7]
一种在位检测电路 [P]. 
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王林 .
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[8]
一种硬盘在位检测电路 [P]. 
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[9]
一种检测单板在位工作的检测电路 [P]. 
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李首忠 ;
李群生 .
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[10]
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