MOSFET器件性能测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421180796.9

申请日：

2024-05-28

公开(公告)号：

CN223155045U

公开(公告)日：

2025-07-25

发明(设计)人：

宣学才

申请人：

江苏芯旺电子科技有限公司

申请人地址：

221004 江苏省徐州市云龙区云龙经济开发区云龙科技谷三号楼一层

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/26 G01R1/073

代理机构：

北京凳凳知识产权代理有限公司 37386

代理人：

张惠

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-25	授权	授权

共 50 条

[1]

性能测试装置 [P].

张晓勤 ;

陶方 ;

孙凯峰 ;

仝威 .

中国专利 :CN206161035U ,2017-05-10

[2]

半导体器件性能测试装置 [P].

刘宝成 .

中国专利 :CN202159118U ,2012-03-07

[3]

性能测试装置 [P].

张晓勤 ;

陶方 ;

孙凯峰 ;

仝威 .

中国专利 :CN106404041A ,2017-02-15

[4]

半导体器件散热性能测试装置 [P].

罗亚非 .

中国专利 :CN222653071U ,2025-03-21

[5]

半导体器件散热性能测试装置 [P].

刘玉智 .

中国专利 :CN201765268U ,2011-03-16

[6]

半导体器件散热性能测试装置 [P].

沈红星 ;

李北印 ;

陈泳宇 .

中国专利 :CN221224913U ,2024-06-25

[7]

光电子器件性能测试装置 [P].

尹越鹏 ;

尹小红 ;

尹小文 .

中国专利 :CN223346990U ,2025-09-16

[8]

一种高性能MOSFET测试装置 [P].

郭力 .

中国专利 :CN213482374U ,2021-06-18

[9]

轮椅电机加载性能测试装置 [P].

杜姗 ;

孙祝兵 .

中国专利 :CN204028324U ,2014-12-17

[10]

器件抗挤压性能测试夹具和器件抗挤压性能测试装置 [P].

刘明建 .

中国专利 :CN106501106B ,2017-03-15

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