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半导体零件三坐标表面精度测量仪及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510898020.3
申请日
:
2025-07-01
公开(公告)号
:
CN120403516A
公开(公告)日
:
2025-08-01
发明(设计)人
:
顾伟东
秦春
申请人
:
无锡格瑞斯精密机械有限公司
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市新吴区鸿山街道鸿月路24号
IPC主分类号
:
G01B21/00
IPC分类号
:
代理机构
:
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
:
陈辉
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 无锡市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-08-19
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 21/00申请日:20250701
2025-08-29
授权
授权
2025-08-01
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体零件三坐标表面精度测量仪及其测量方法
[P].
顾伟东
论文数:
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机构:
无锡格瑞斯精密机械有限公司
无锡格瑞斯精密机械有限公司
顾伟东
;
秦春
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机构:
无锡格瑞斯精密机械有限公司
无锡格瑞斯精密机械有限公司
秦春
.
中国专利
:CN120403516B
,2025-08-29
[2]
时间精度测量仪及其测量方法
[P].
宋鹏涛
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宋鹏涛
;
龚翔
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龚翔
;
高波
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高波
;
郭新刚
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郭新刚
.
中国专利
:CN109062026A
,2018-12-21
[3]
高精度三坐标测量仪
[P].
朱晓锋
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朱晓锋
;
唐伟
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唐伟
;
高海峰
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高海峰
.
中国专利
:CN210741417U
,2020-06-12
[4]
基于三坐标测量仪的测量方法
[P].
章升谊
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章升谊
;
章升光
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章升光
.
中国专利
:CN109341609A
,2019-02-15
[5]
夹具(三坐标测量仪塑料型零件)
[P].
李健敏
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李健敏
;
陈泳桓
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陈泳桓
;
唐毓佳
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唐毓佳
;
卢茹
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卢茹
;
李浩权
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李浩权
;
肖驰芳
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肖驰芳
;
王志海
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王志海
;
温树彬
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温树彬
;
李业校
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李业校
;
陆观灿
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陆观灿
;
廖杨光
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廖杨光
;
陈治
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陈治
.
中国专利
:CN305901844S
,2020-07-07
[6]
高精度三坐标测量仪
[P].
陆庆年
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陆庆年
;
陈易辉
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陈易辉
.
中国专利
:CN204881520U
,2015-12-16
[7]
高精度三坐标测量仪
[P].
陆庆年
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陆庆年
;
陈璐
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陈璐
.
中国专利
:CN217032400U
,2022-07-22
[8]
机械加工零件对称度精度测量仪
[P].
吴艾平
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吴艾平
.
中国专利
:CN2101215U
,1992-04-08
[9]
回转体零件的测量方法及测量仪
[P].
王晓强
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王晓强
;
崔凤奎
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崔凤奎
;
杨丙乾
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杨丙乾
;
孙彩霞
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孙彩霞
;
庞华奇
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庞华奇
;
张丰收
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张丰收
;
徐红玉
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徐红玉
;
孙安
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孙安
;
李贯卿
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李贯卿
;
冯霞
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冯霞
.
中国专利
:CN102679904A
,2012-09-19
[10]
三坐标测量仪
[P].
施行芳
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施行芳
;
潘少波
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潘少波
;
岑哲昱
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岑哲昱
;
胡建波
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胡建波
.
中国专利
:CN113865534A
,2021-12-31
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