闪存存储芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421667905.X

申请日：

2024-07-15

公开(公告)号：

CN223155675U

公开(公告)日：

2025-07-25

发明(设计)人：

王玉伟何静王一凡何贵银

申请人：

深圳市卓然电子有限公司

申请人地址：

518116 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路95-1号B501

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785

代理人：

张奇

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-25	授权	授权

共 50 条

[1]

闪存存储芯片测试设备 [P].

王玉伟 ;

邹小玲 ;

孙丹归 ;

郑双桥 .

中国专利 :CN223155674U ,2025-07-25

[2]

存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10

[3]

一种存储芯片测试装置 [P].

艾育林 .

中国专利 :CN221915994U ,2024-10-29

[4]

一种存储芯片测试装置 [P].

郑志新 .

中国专利 :CN223427247U ,2025-10-10

[5]

一种存储芯片测试装置 [P].

谭少鹏 .

中国专利 :CN223167248U ,2025-07-29

[6]

存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质 [P].

刘众 ;

李文俊 ;

肖浩 ;

黄慧敏 .

中国专利 :CN118298900A ,2024-07-05

[7]

一种嵌入式存储芯片测试装置 [P].

李攀 ;

张博 ;

吴赛光 ;

王旭 ;

顾忠伟 .

中国专利 :CN223501562U ,2025-10-31

[8]

一种存储芯片简易测试装置 [P].

欧阳木洲 .

中国专利 :CN220731185U ,2024-04-05

[9]

存储芯片功耗测试装置 [P].

孙文琪 .

中国专利 :CN222600517U ,2025-03-11

[10]

存储芯片的测试装置 [P].

裴全勇 ;

欧镒勤 .

中国专利 :CN222914438U ,2025-05-27

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