检查装置、检查方法及检查程序、以及学习装置、学习方法及学习程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080043817.0

申请日：

2020-05-11

公开(公告)号：

CN113994378B

公开(公告)日：

2025-08-01

发明(设计)人：

池田皓甫伊拉·莱文塔尔基思·肖布

申请人：

爱德万测试株式会社

申请人地址：

日本东京都千代田区丸之内1丁目6番2号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/25 G06V10/778 G06V10/774 G06V10/44

代理机构：

深圳新创友知识产权代理有限公司 44223

代理人：

江耀锋

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-01	授权	授权

共 50 条

[1]

检查装置、检查方法及检查程序、以及学习装置、学习方法及学习程序 [P].

池田皓甫 ;

伊拉·莱文塔尔 ;

基思·肖布 .

中国专利 :CN113994378A ,2022-01-28

[2]

检查装置、检查方法、检查程序、学习装置、学习方法和学习程序 [P].

西川敬士 ;

福井孝太郎 ;

小林翔一 ;

关哲朗 ;

长德典宏 .

日本专利 :CN120659979A ,2025-09-16

[3]

学习装置、检查装置、学习方法以及检查方法 [P].

塩见顺一 .

中国专利 :CN112614086A ,2021-04-06

[4]

学习装置、检查装置、学习方法以及检查方法 [P].

塩见顺一 .

日本专利 :CN112614086B ,2024-11-01

[5]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

木藤圭亮 ;

河内清人 ;

山本匠 ;

西川弘毅 .

中国专利 :CN112204528A ,2021-01-08

[6]

检查装置、检查方法以及检查程序 [P].

饭田大贵 .

日本专利 :CN120396968A ,2025-08-01

[7]

检查装置、检查方法、机器学习装置以及机器学习方法 [P].

杉野刚大 ;

园原猛史 .

中国专利 :CN114689594A ,2022-07-01

[8]

检查装置、检查系统以及检查程序 [P].

佐藤英典 ;

广濑佑介 ;

真锅崇宽 .

中国专利 :CN113340917A ,2021-09-03

[9]

检查程序、检查系统以及检查装置 [P].

近藤创 ;

小林祐树 ;

青山高 ;

原大 .

日本专利 :CN117852944A ,2024-04-09

[10]

检查装置、检查方法、学习完毕模型生成装置、检查用程序以及学习完毕模型生成用程序 [P].

小林昌史 .

日本专利 :CN118679393A ,2024-09-20

← 1 2 3 4 5 →