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一种集成电路测试座的探针脚测试设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510479735.5
申请日：
2025-04-17
公开(公告)号：
CN120334712A
公开(公告)日：
2025-07-18
发明(设计)人：
赵成兵
申请人：
苏州格巨电子科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中区木渎镇尧峰西路70号5号厂房1、2、3层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
F16J15/06 B08B1/14 B08B1/30 G01R1/02 G01R1/073
代理机构：
深圳市宾亚知识产权代理有限公司 44459
代理人：
吕林
法律状态：
发明专利申请公布后的撤回
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-30 发明专利申请公布后的撤回 发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01R 31/28申请公布日:20250718
2025-07-18 公开 公开
2025-08-05 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250417
共 50 条
[1]
一种集成电路测试座的探针脚测试设备 [P]. 
蔡文敢 .
中国专利 :CN113848451A ,2021-12-28
[2]
一种集成电路测试座的探针脚测试装置 [P]. 
张朝霖 ;
冼贞明 .
中国专利 :CN109581132A ,2019-04-05
[3]
一种集成电路测试座的探针脚测试装置 [P]. 
洪学成 .
中国专利 :CN215910595U ,2022-02-25
[4]
一种集成电路测试座的探针脚测试装置 [P]. 
张朝霖 ;
冼贞明 .
中国专利 :CN109581132B ,2024-04-16
[5]
一种集成电路测试座的探针脚测试装置 [P]. 
张朝霖 ;
冼贞明 .
中国专利 :CN209656810U ,2019-11-19
[6]
探针及集成电路测试设备 [P]. 
段超毅 ;
蒋伟 ;
周闯 .
中国专利 :CN216411479U ,2022-04-29
[7]
集成电路测试用探针 [P]. 
田治峰 ;
高凯 ;
殷岚勇 ;
王强 ;
周明 ;
闫立民 ;
贺涛 .
中国专利 :CN301714106S ,2011-11-02
[8]
集成电路测试用探针 [P]. 
田治峰 ;
高凯 ;
殷岚勇 ;
王强 ;
周明 ;
闫立民 ;
贺涛 .
中国专利 :CN301714105S ,2011-11-02
[9]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08
[10]
一种集成电路测试座 [P]. 
孔令飞 ;
刘厚东 .
中国专利 :CN222774600U ,2025-04-18
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