光谱测量方法和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510570839.7

申请日：

2025-04-30

公开(公告)号：

CN120369117A

公开(公告)日：

2025-07-25

发明(设计)人：

金颖康吴万龙张永明王迎新陈猛任道光范锐

申请人：

北京神目科技有限公司清华大学同方威视技术股份有限公司

申请人地址：

101399 北京市顺义区临空经济核心区融慧园6号楼4-170

IPC主分类号：

G01J3/28

IPC分类号：

G01J3/02

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

张琛

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-25	公开	公开
2025-08-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/28申请日:20250430

共 50 条

[1]

光谱测量方法和设备 [P].

吴万龙 ;

金颖康 ;

张永明 ;

王迎新 ;

陈猛 ;

任道光 ;

范锐 .

中国专利 :CN120369115A ,2025-07-25

[2]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[3]

光谱测量系统及测量方法 [P].

戴琼海 ;

高彬 ;

张晶 ;

邵航 ;

范静涛 .

中国专利 :CN106841118A ,2017-06-13

[4]

光谱测量方法、装置 [P].

薛敏 ;

朱贝贝 ;

潘时龙 ;

曹源 .

中国专利 :CN107121193A ,2017-09-01

[5]

光谱测量系统和方法 [P].

林志泉 .

中国专利 :CN1737514A ,2006-02-22

[6]

一种光谱测量方法及装置 [P].

张林 ;

张尚 ;

周强 ;

董宇涵 .

中国专利 :CN106501189A ,2017-03-15

[7]

光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[8]

透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

郑仲翔 ;

陈敬修 ;

胡恩德 .

中国专利 :CN104792697A ,2015-07-22

[9]

光谱测量装置及其测量方法 [P].

王振伟 .

中国专利 :CN115615544A ,2023-01-17

[10]

全光纤光谱测量方法 [P].

贾波 .

中国专利 :CN100427905C ,2003-06-04

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