动态功耗优化方法、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510863861.0
申请日
2025-06-26
公开(公告)号
CN120373241A
公开(公告)日
2025-07-25
发明(设计)人
胡晟
申请人
英诺达(成都)电子科技有限公司
申请人地址
610000 四川省成都市高新区和乐二街171号B6栋2单元18层
IPC主分类号
G06F30/367
IPC分类号
G06F119/06 G06F30/398
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
动态功耗优化方法、电子设备及存储介质 [P]. 
胡晟 .
中国专利 :CN120373241B ,2025-09-19
[2]
功耗优化方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘康 .
中国专利 :CN113596969A ,2021-11-02
[3]
逻辑冗余检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
徐浩丰 .
中国专利 :CN120975035B ,2025-12-23
[4]
逻辑冗余检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
徐浩丰 .
中国专利 :CN120975035A ,2025-11-18
[5]
功耗优化方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
高毅 .
中国专利 :CN113010000A ,2021-06-22
[6]
功耗优化方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
高毅 .
中国专利 :CN113010000B ,2024-03-26
[7]
波形传播方法、电子设备及存储介质 [P]. 
肖玉川 .
中国专利 :CN120163103A ,2025-06-17
[8]
波形传播方法、电子设备及存储介质 [P]. 
肖玉川 .
中国专利 :CN120163103B ,2025-07-22
[9]
功耗优化方法、装置、电子设备、存储介质 [P]. 
陈争胜 ;
解海涛 ;
彭亮 ;
罗勇 .
中国专利 :CN118152111A ,2024-06-07
[10]
系统功耗优化方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
田力 ;
孙振 .
中国专利 :CN119806304A ,2025-04-11