测试板卡、测试方法和测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510409838.4

申请日：

2025-03-31

公开(公告)号：

CN120340587A

公开(公告)日：

2025-07-18

发明(设计)人：

孙杨李俊杰

申请人：

长鑫科技集团股份有限公司

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

王花丽;浦彩华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-05	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20250331
2025-07-18	公开	公开

共 50 条

[1]

一种测试板卡、测试系统和测试方法 [P].

钱进 ;

马茂松 ;

石宏龙 .

中国专利 :CN115831211B ,2025-12-23

[2]

时钟测试板卡和时钟测试系统 [P].

艾林 ;

吴玉春 .

中国专利 :CN223539184U ,2025-11-11

[3]

测试板卡及测试系统 [P].

吴勇佳 ;

姚岭 ;

刘陈晨 .

中国专利 :CN223742660U ,2025-12-30

[4]

测试板卡及测试系统 [P].

徐峻伟 ;

蔡朱平 ;

马言龙 .

中国专利 :CN221378180U ,2024-07-19

[5]

测试板卡、测试板卡工装及板卡测试方法 [P].

张晓羽 .

中国专利 :CN117434421A ,2024-01-23

[6]

测试板卡的管理方法和芯片测试系统 [P].

张宇航 ;

董雨晴 ;

刘威 ;

姜虎明 ;

吴泽民 ;

张灿 .

中国专利 :CN121187675A ,2025-12-23

[7]

集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

凌献忠 ;

田敏 .

中国专利 :CN113219319A ,2021-08-06

[8]

集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

凌献忠 ;

田敏 .

中国专利 :CN113219319B ,2024-03-12

[9]

可编程测试板卡和车辆测试系统 [P].

蒋园园 ;

王永春 ;

潘丽红 ;

赵伟冰 ;

曹寿国 .

中国专利 :CN222354310U ,2025-01-14

[10]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

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