一种压敏电阻测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211179478.6

申请日：

2022-09-27

公开(公告)号：

CN115417011B

公开(公告)日：

2025-07-18

发明(设计)人：

颜非查泽军李清军

申请人：

福建省乔光电子科技有限公司

申请人地址：

364000 福建省龙岩市漳平市西园镇大洋路21号

IPC主分类号：

B65D85/38

IPC分类号：

B65D53/02 B65D55/02 B65D25/28 B65D51/24 B65D81/113 B65H75/48 F26B21/00 G01R1/04 G01R31/00 G01R31/12 H05K7/20

代理机构：

福建展岩知识产权代理事务所(普通合伙) 35303

代理人：

俞诗萍

法律状态：

授权

国省代码：

福建省龙岩市

引用

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共 50 条

[1]

一种压敏电阻测试装置 [P].

颜非 ;

查泽军 ;

李清军 .

中国专利 :CN115417011A ,2022-12-02

[2]

压敏电阻测试装置 [P].

曾凯 ;

粟小明 ;

谭柳枝 ;

潘娟 .

中国专利 :CN218180190U ,2022-12-30

[3]

一种压敏电阻测试装置 [P].

强红娟 ;

郭辉 .

中国专利 :CN220794515U ,2024-04-16

[4]

一种压敏电阻性能测试装置 [P].

谢小荣 .

中国专利 :CN222420291U ,2025-01-28

[5]

一种压敏电阻芯片的快速测试装置 [P].

牛继恩 ;

王茂娟 ;

肖文华 ;

李慧 .

中国专利 :CN216351005U ,2022-04-19

[6]

压敏电阻芯片量测试装置 [P].

肖周运 ;

程国洪 .

中国专利 :CN208297560U ,2018-12-28

[7]

一种生产压敏电阻的测试装置 [P].

颜非 ;

查泽军 ;

李清军 .

中国专利 :CN114705961A ,2022-07-05

[8]

一种叠层片式压敏电阻排用测试装置 [P].

成学军 ;

贾广平 ;

邵庆云 ;

师习恩 .

中国专利 :CN202066941U ,2011-12-07

[9]

一种压敏电阻器测试装置 [P].

周永 ;

周飞 ;

聂双 .

中国专利 :CN221056566U ,2024-05-31

[10]

一种压敏电阻器测试装置 [P].

阮翔 ;

李丰 ;

罗辉芳 ;

吴宜斌 ;

方晓燕 ;

穆沈浩 ;

毛熠伟 ;

关芳 ;

黄玮 ;

刘洋 .

中国专利 :CN114814446A ,2022-07-29

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2025-07-18	授权	授权