一种基于深度学习优化的芯片测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510322761.7
申请日
2025-03-19
公开(公告)号
CN119846440B
公开(公告)日
2025-07-29
发明(设计)人
黄峰荣 杨斌 喻声洪
申请人
四川芯合微电子有限公司
申请人地址
629000 四川省遂宁市高新区物流港玫瑰大道东侧春晓路73号苏哈瑞涛科技园2号厂房
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R31/52 G01R31/54 G06N3/0464 G06N3/084 G06N3/048
代理机构
成都众恒智合知识产权代理有限公司 51239
代理人
张洪
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于深度学习优化的芯片测试方法 [P]. 
黄峰荣 ;
杨斌 ;
喻声洪 .
中国专利 :CN119846440A ,2025-04-18
[2]
一种基于深度学习的动态测试路径优化方法 [P]. 
张凌风 ;
赵茂霖 ;
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[3]
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[7]
一种基于深度学习的胶管优化设计方法及装置 [P]. 
李翠平 ;
许敬良 ;
刘志坤 ;
王小南 .
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[8]
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郑超 ;
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段宏宇 .
中国专利 :CN120872714B ,2025-11-25
[9]
一种基于深度学习的AI芯片测试参数自适应优化方法 [P]. 
陶雪峰 ;
郑超 ;
代彬 ;
段宏宇 .
中国专利 :CN120872714A ,2025-10-31
[10]
一种基于深度学习的药物库存动态优化方法 [P]. 
刘万里 ;
于瑞林 ;
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中国专利 :CN118710194B ,2025-01-07