一种光学元件激光损伤三维测量装置和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211294884.7

申请日：

2022-10-21

公开(公告)号：

CN115523865B

公开(公告)日：

2025-07-18

发明(设计)人：

蒋志龙刘诚王绶玙孔艳

申请人：

江南大学

申请人地址：

214122 江苏省无锡市滨湖区蠡湖大道1800号

IPC主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G01N21/45 G01N21/59

代理机构：

哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211

代理人：

吕永芳

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省无锡市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学元件激光损伤三维测量装置和测量方法 [P].

蒋志龙 ;

刘诚 ;

王绶玙 ;

孔艳 .

中国专利 :CN115523865A ,2022-12-27

[2]

光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置和测量方法 [P].

李杰 ;

巴荣声 ;

周信达 ;

郑垠波 ;

丁磊 ;

徐宏磊 ;

袁静 ;

陈波 ;

柴立群 .

中国专利 :CN108007381A ,2018-05-08

[3]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

川末纪功仁 ;

大宅雄一郎 .

中国专利 :CN1860345A ,2006-11-08

[4]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

太田悠介 .

日本专利 :CN115280097B ,2025-08-26

[5]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

奥田学 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 .

日本专利 :CN113966457B ,2024-06-11

[6]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

岩井一能 .

中国专利 :CN104380037A ,2015-02-25

[7]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

奥田学 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 .

中国专利 :CN113966457A ,2022-01-21

[8]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

王生和弘 ;

辻村昌治 ;

上田阳一郎 .

中国专利 :CN1069403C ,1998-04-22

[9]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

[10]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

木村匠 .

中国专利 :CN102628678B ,2012-08-08

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