学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

一种高精度多通道电子元器件测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510652957.2
申请日：
2025-05-21
公开(公告)号：
CN120169716B
公开(公告)日：
2025-08-08
发明(设计)人：
杨军 宋婉潇 苏玲玲 杨冰 刘伟锋 汪维平 朱俊琦 刘新文 夏启飞 董秦博 黄菊莲 朱文鹏 权亚娟 白明月 王彩云 李燕 何海莹
申请人：
西安西谷微电子有限责任公司
申请人地址：
710000 陕西省西安市丈八五路二号现代企业中心东区2-10402
IPC主分类号：
B07C5/344
IPC分类号：
B07C5/02 B07C5/36 B07C5/38
代理机构：
北京众合佳创知识产权代理有限公司 16020
代理人：
郑为聪
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 常州市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-20 公开 公开
2025-08-08 授权 授权
2025-07-08 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):B07C 5/344申请日:20250521
共 50 条
[1]
一种高精度多通道电子元器件测试系统 [P]. 
杨军 ;
宋婉潇 ;
苏玲玲 ;
杨冰 ;
刘伟锋 ;
汪维平 ;
朱俊琦 ;
刘新文 ;
夏启飞 ;
董秦博 ;
黄菊莲 ;
朱文鹏 ;
权亚娟 ;
白明月 ;
王彩云 ;
李燕 ;
何海莹 .
中国专利 :CN120169716A ,2025-06-20
[2]
电子元器件测试系统 [P]. 
崔海坡 ;
李哲龙 ;
周勋 ;
廖跃华 ;
沈力行 ;
尚昆 .
中国专利 :CN203365588U ,2013-12-25
[3]
电子元器件测试系统 [P]. 
崔海坡 ;
李哲龙 ;
周勋 ;
廖跃华 ;
沈力行 ;
尚昆 .
中国专利 :CN104345226A ,2015-02-11
[4]
一种电子元器件测试系统 [P]. 
何纪法 .
中国专利 :CN206533549U ,2017-09-29
[5]
一种电子元器件测试系统 [P]. 
石娇娇 .
中国专利 :CN208888347U ,2019-05-21
[6]
一种基于自适应校准算法的多通道电子元器件测试系统 [P]. 
杨瑞龙 .
中国专利 :CN121164774A ,2025-12-19
[7]
一种多通道电子元器件测试装置 [P]. 
李公礼 ;
付勇攀 .
中国专利 :CN213986714U ,2021-08-17
[8]
电子元器件高精度点胶装置 [P]. 
李静 ;
蔡海燕 ;
李琳琳 .
中国专利 :CN114769065A ,2022-07-22
[9]
一种电子元器件测试系统及方法 [P]. 
甄子新 ;
冯慧 ;
董晨曦 ;
王冲 .
中国专利 :CN119667319A ,2025-03-21
[10]
一种高精度电子元器件丝印装置 [P]. 
孙永光 .
中国专利 :CN110774735A ,2020-02-11
12345