一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510512963.8

申请日：

2025-04-23

公开(公告)号：

CN120031882B

公开(公告)日：

2025-08-15

发明(设计)人：

张景程杨硕张滨刘祥超

申请人：

深圳精智达技术股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/764 G06V10/46

代理机构：

深圳腾文知识产权代理有限公司 44680

代理人：

钟奉展

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-23	公开	公开
2025-08-15	授权	授权
2025-06-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250423

共 50 条

[1]

一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

张景程 ;

杨硕 ;

张滨 ;

刘祥超 .

中国专利 :CN120031882A ,2025-05-23

[2]

基于相位偏折术的屏幕橘皮检测方法及系统 [P].

刘锴锋 ;

王斌 ;

郑子谅 .

中国专利 :CN120411100A ,2025-08-01

[3]

基于相位偏折术的屏幕橘皮检测方法及系统 [P].

刘锴锋 ;

王斌 ;

郑子谅 .

中国专利 :CN120411100B ,2025-09-26

[4]

相位偏折术在玻璃缺陷检测的应用 [P].

都卫东 ;

王岩松 ;

和江镇 ;

吴健雄 ;

王天翔 .

中国专利 :CN111323434B ,2020-06-23

[5]

一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统 [P].

刘锴锋 ;

王斌 ;

郑子谅 .

中国专利 :CN120820564A ,2025-10-21

[6]

一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统 [P].

刘锴锋 ;

王斌 ;

郑子谅 .

中国专利 :CN120820564B ,2025-11-21

[7]

一种基于相位偏折术的光学性能检测方法、介质及设备 [P].

房丰洲 ;

王颖墨 .

中国专利 :CN116399834B ,2025-12-19

[8]

基于结构光与相位偏折术的高反光表面缺陷检测方法 [P].

周柔刚 ;

徐庆扬 ;

赵书雯 ;

曾东圣 ;

陈安 ;

周才健 .

中国专利 :CN121073976A ,2025-12-05

[9]

相位偏折术测量系统标定方法、装置、设备及存储介质 [P].

郑道勤 ;

雷汝霖 ;

王侃 ;

周福江 ;

邱庆明 .

中国专利 :CN118397103A ,2024-07-26

[10]

基于2.5D相位偏折术的复杂车身表面涂层缺陷检测方法 [P].

孟伟 ;

程广奇 ;

李争光 ;

吕献华 .

中国专利 :CN119715536A ,2025-03-28

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