兼容存储设备测试及开卡的转接装置及开卡测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422621790.7

申请日：

2024-10-28

公开(公告)号：

CN223273026U

公开(公告)日：

2025-08-26

发明(设计)人：

请求不公布姓名郭航旗请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名

申请人：

深圳宏芯宇电子股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G06F13/40

代理机构：

深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651

代理人：

汤金燕

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-26	授权	授权

共 50 条

[1]

测试转接装置及测试系统 [P].

刘顺临 .

中国专利 :CN113030526A ,2021-06-25

[2]

存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法 [P].

张涛 .

中国专利 :CN114625213A ,2022-06-14

[3]

测试卡及测试系统 [P].

翁超 ;

钱晓烨 ;

谢勇 .

中国专利 :CN118624984A ,2024-09-10

[4]

测试卡及测试系统 [P].

翁超 ;

钱晓烨 ;

谢勇 .

中国专利 :CN118624984B ,2025-10-10

[5]

存储卡兼容性测试方法及系统 [P].

蔡雅平 ;

王正明 .

中国专利 :CN112820345A ,2021-05-18

[6]

开孔装置及电池测试设备 [P].

张世浩 ;

刘博 ;

叶世清 ;

陈泽宁 .

中国专利 :CN221817372U ,2024-10-11

[7]

测试用转接装置及测试系统 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN221707568U ,2024-09-13

[8]

mSATA接口测试卡及测试系统 [P].

赵志勇 ;

王太诚 ;

叶磊 ;

姜又炜 .

中国专利 :CN102567167A ,2012-07-11

[9]

测试装置、测试卡及测试系统 [P].

小林秀雄 .

中国专利 :CN101329644A ,2008-12-24

[10]

图卡测试设备及基于图卡测试设备的图卡测试方法 [P].

许基业 ;

唐涛 .

中国专利 :CN114816864A ,2022-07-29

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