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直流失调校准方法、校准装置、校准系统和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511101448.7
申请日：
2025-08-07
公开(公告)号：
CN120614058A
公开(公告)日：
2025-09-09
发明(设计)人：
代洪光 孟英 陈金雷 黄其华 王联埕 刘伟 赵晓庆
申请人：
北京智芯半导体科技有限公司
申请人地址：
102200 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层
IPC主分类号：
H04B17/11
IPC分类号：
H04B17/21
代理机构：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：
张培培
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-26 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H04B 17/11申请日:20250807
2025-09-09 公开 公开
共 50 条
[1]
直流失调校准系统及直流失调校准方法 [P]. 
董晶晶 ;
张凌炜 ;
姜汉钧 ;
魏建军 ;
李福乐 ;
张春 ;
王志华 .
中国专利 :CN103607209A ,2014-02-26
[2]
直流失调校准系统及其方法 [P]. 
李健 ;
孙凯 .
中国专利 :CN114063699B ,2022-02-18
[3]
校准方法和装置、终端、校准系统和存储介质 [P]. 
杨新勤 .
中国专利 :CN112365427A ,2021-02-12
[4]
校准方法、待校准设备、校准装置、校准系统及存储介质 [P]. 
严欢 ;
冯维 .
中国专利 :CN120686177A ,2025-09-23
[5]
校准系统、校准方法及存储介质 [P]. 
欧阳文斌 ;
文黎阳 ;
雷晶晶 .
中国专利 :CN112731247A ,2021-04-30
[6]
校准装置、校准系统、移动系统、校准方法以及存储介质 [P]. 
松野喜幸 .
日本专利 :CN117840983A ,2024-04-09
[7]
校准系统、校准方法及存储介质 [P]. 
欧阳文斌 ;
文黎阳 ;
雷晶晶 .
中国专利 :CN112731247B ,2024-03-19
[8]
显示校准方法和装置、终端、校准系统和存储介质 [P]. 
郑超 .
中国专利 :CN112365550B ,2024-07-16
[9]
校准装置、校准系统和校准方法 [P]. 
山下纪之 ;
大场章男 .
中国专利 :CN111095923B ,2020-05-01
[10]
显示校准方法和装置、终端、校准系统和存储介质 [P]. 
郑超 .
中国专利 :CN112365550A ,2021-02-12
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