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电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411593488.3
申请日：
2024-11-08
公开(公告)号：
CN119540174B
公开(公告)日：
2025-09-19
发明(设计)人：
李友高 许朝智 常沛炜 吴星辰 李荣基 戴瑶 李骁
申请人：
季华实验室
申请人地址：
528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/136 G06T7/13 G06T5/50 G06T5/60 G06T5/70 G06N3/0464 G06N3/08
代理机构：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268
代理人：
刘文求
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241108
2025-02-28 公开 公开
2025-09-19 授权 授权
共 50 条
[1]
电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
李友高 ;
许朝智 ;
常沛炜 ;
吴星辰 ;
李荣基 ;
戴瑶 ;
李骁 .
中国专利 :CN119540174A ,2025-02-28
[2]
PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
周达广 ;
覃宁 ;
陈莎 ;
何运炎 .
中国专利 :CN119379662A ,2025-01-28
[3]
PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
周达广 ;
覃宁 ;
陈莎 ;
何运炎 .
中国专利 :CN119379662B ,2025-09-23
[4]
柔性电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张木儒 ;
朱志远 ;
黄秀金 .
中国专利 :CN118429328B ,2024-10-18
[5]
印制电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
黄耀 ;
倪桥 .
中国专利 :CN114155367B ,2022-03-08
[6]
柔性电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张木儒 ;
朱志远 ;
黄秀金 .
中国专利 :CN118429328A ,2024-08-02
[7]
一种电路板元件布局设计缺陷检测方法、装置及存储介质 [P]. 
司梦瑶 ;
陈张彬 .
中国专利 :CN118883597A ,2024-11-01
[8]
印刷电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
李林峰 ;
汪杨刚 ;
高强 .
中国专利 :CN114897797A ,2022-08-12
[9]
印刷电路板的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
李林峰 ;
汪杨刚 ;
高强 .
中国专利 :CN114897797B ,2025-04-04
[10]
电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
洪远霖 ;
宋悦 .
中国专利 :CN119515756A ,2025-02-25
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