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芯片测试分选机(SUMMIT-H)

被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202530046518.8
申请日：
2025-01-23
公开(公告)号：
CN309499138S
公开(公告)日：
2025-09-16
发明(设计)人：
黄文中 沈程 肖旭 李磊 李鑫
申请人：
天津金海通半导体设备股份有限公司
申请人地址：
300270 天津市滨海新区华苑产业区物华道8号A106
IPC主分类号：
15-99
IPC分类号：
代理机构：
天津企兴智财知识产权代理有限公司 12226
代理人：
苏嘉博
法律状态：
授权
国省代码：
天津市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-16 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片测试分选机(SUMMIT-HCR) [P]. 
黄文中 ;
沈程 ;
彭煜 ;
卢壮壮 .
中国专利 :CN309499139S ,2025-09-16
[2]
芯片测试分选机（NEOCEED-W） [P]. 
李彦樟 ;
李兴宝 ;
陈钱 ;
刘帅领 .
中国专利 :CN309037065S ,2024-12-27
[3]
芯片测试分选机（Exceed9800） [P]. 
吕克振 ;
侯景洋 ;
张胜春 ;
郭彪 .
中国专利 :CN309037064S ,2024-12-27
[4]
芯片测试分选机（9032Plus） [P]. 
贺怀珍 ;
郭义星 .
中国专利 :CN309004780S ,2024-12-13
[5]
芯片测试分选机（NEOCEED-Q） [P]. 
陈钱 ;
李兴宝 ;
李彦樟 ;
刘圆圆 .
中国专利 :CN309012921S ,2024-12-17
[6]
芯片测试分选机(Strip Test Handler) [P]. 
崔焱延 ;
郭义星 .
中国专利 :CN309703526S ,2025-12-26
[7]
芯片测试分选机（NEOCEED-T） [P]. 
李兴宝 ;
陈钱 ;
刘帅领 ;
李彦樟 .
中国专利 :CN309004781S ,2024-12-13
[8]
芯片测试分选机(film frame test handler) [P]. 
崔焱延 ;
郭义星 .
中国专利 :CN309703525S ,2025-12-26
[9]
芯片测试分选机（单工位三温取放式） [P]. 
孙毅俊 ;
吕勇 ;
季宏薪 .
中国专利 :CN306811184S ,2021-09-07
[10]
芯片测试分选机 [P]. 
史赛 ;
杨胜利 .
中国专利 :CN307511942S ,2022-08-23
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