一种基于UNet++的多尺度芯片缺陷尺寸测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411973554.X

申请日：

2024-12-30

公开(公告)号：

CN119723101B

公开(公告)日：

2025-09-23

发明(设计)人：

李孟轩李向宁赵玥罗军

申请人：

西安电子科技大学

申请人地址：

710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

IPC主分类号：

G06V10/422

IPC分类号：

G06N3/0455 G06N3/0464 G06T7/00 G06V10/26 G06V10/44 G06V10/52 G06V10/764 G06V10/82

代理机构：

西安通大专利代理有限责任公司 61200

代理人：

姚咏华

法律状态：

授权

国省代码：

陕西省西安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-23	授权	授权
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/422申请日:20241230
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于UNet++的多尺度芯片缺陷尺寸测量方法 [P].

李孟轩 ;

李向宁 ;

赵玥 ;

罗军 .

中国专利 :CN119723101A ,2025-03-28

[2]

一种基于干涉成像技术和Unet++的球形粒子尺寸测量方法 [P].

孙金露 ;

王晓阳 ;

郭志诚 ;

褚运鹏 ;

张诚 ;

李玉强 ;

苗长云 .

中国专利 :CN119935850A ,2025-05-06

[3]

基于多尺度残差UNet分割的芯片姿态检测方法 [P].

王萍 ;

吴静静 ;

安聪颖 ;

李天贺 .

中国专利 :CN117409077A ,2024-01-16

[4]

基于多尺度残差UNet分割的芯片姿态检测方法 [P].

王萍 ;

吴静静 ;

安聪颖 ;

李天贺 .

中国专利 :CN117409077B ,2024-04-05

[5]

一种带钢表面缺陷区域尺寸测量方法 [P].

石念峰 ;

王国强 ;

杨向兰 ;

冯止泞 ;

李欢利 ;

李淳芃 ;

赵利国 ;

乔义彬 ;

刘质纯 ;

赵一鸣 ;

谭溢仁 .

中国专利 :CN119313669A ,2025-01-14

[6]

一种带钢表面缺陷区域尺寸测量方法 [P].

石念峰 ;

王国强 ;

杨向兰 ;

冯止泞 ;

李欢利 ;

李淳芃 ;

赵利国 ;

乔义彬 ;

刘质纯 ;

赵一鸣 ;

谭溢仁 .

中国专利 :CN119313669B ,2025-05-09

[7]

基于对比学习的多尺度聚合芯片表面缺陷检测方法 [P].

肖上 ;

吴静静 ;

庄祉珊 ;

徐菲菲 .

中国专利 :CN121190398A ,2025-12-23

[8]

一种基于双目黑光灯的缺陷尺寸自动测量方法 [P].

李龙 ;

杨芸 ;

陈翠丽 ;

孙宏飞 ;

李婷婷 .

中国专利 :CN114813743A ,2022-07-29

[9]

一种基于序列异常检测的多尺度芯片缺陷检测方法 [P].

任获荣 ;

吕银飞 ;

刘洋 ;

焦小强 ;

刘岩 ;

刘赛 ;

孙通 .

中国专利 :CN114187274A ,2022-03-15

[10]

一种基于序列异常检测的多尺度芯片缺陷检测方法 [P].

任获荣 ;

吕银飞 ;

刘洋 ;

焦小强 ;

刘岩 ;

刘赛 ;

孙通 .

中国专利 :CN114187274B ,2024-12-27

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