电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411394812.9

申请日：

2024-10-08

公开(公告)号：

CN119245867B

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

马丁立吴友鹏苏星溢

申请人：

重庆赛力斯凤凰智创科技有限公司

申请人地址：

400041 重庆市沙坪坝区高新区曾家镇兴祥路13号

IPC主分类号：

G01K13/00

IPC分类号：

G06F17/18 G16C60/00 G01K1/02

代理机构：

北京金蓄专利代理有限公司 11544

代理人：

郑淑铃

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	授权	授权
2025-01-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01K 13/00申请日:20241008
2025-01-03	公开	公开

共 50 条

[1]

电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马丁立 ;

吴友鹏 ;

苏星溢 .

中国专利 :CN119245867A ,2025-01-03

[2]

元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马彩丰 .

中国专利 :CN115661115A ,2023-01-31

[3]

元器件检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

汤寅航 ;

刘琪 .

中国专利 :CN111914508A ,2020-11-10

[4]

电子元器件搜索方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谢国清 ;

林颖朝 .

中国专利 :CN114912002A ,2022-08-16

[5]

温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

古启才 .

中国专利 :CN119845449A ,2025-04-18

[6]

元器件的缺陷等级检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谢思映 ;

梅亮 ;

罗俊杰 ;

张文瑞 ;

张钊 ;

孙铮 ;

陆涛 .

中国专利 :CN119693297A ,2025-03-25

[7]

电子元器件的调试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

谢思映 ;

罗俊杰 ;

么鹏 ;

韩滔 ;

郭晗 ;

沈郁博 ;

孔笑荷 ;

聂之君 ;

甘芸瑄 .

中国专利 :CN120352709A ,2025-07-22

[8]

电芯温度检测方法及装置、电子设备及存储介质 [P].

王兴成 .

中国专利 :CN117387784A ,2024-01-12

[9]

电子元器件的选型方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

王驰江 ;

丁骋南 ;

栾园园 ;

唐琴 ;

胡碧琳 ;

黄丹 .

中国专利 :CN120197586A ,2025-06-24

[10]

温度检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

汤寅航 ;

赵江华 .

中国专利 :CN111811667A ,2020-10-23

← 1 2 3 4 5 →