超导薄膜的物理参数的测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510173279.1

申请日：

2025-02-17

公开(公告)号：

CN119986489B

公开(公告)日：

2025-09-09

发明(设计)人：

曹宗正张定

申请人：

清华大学

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园

IPC主分类号：

G01R33/12

IPC分类号：

G01R27/08

代理机构：

北京博思佳知识产权代理有限公司 11415

代理人：

张玲玲

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-09	授权	授权
2025-05-13	公开	公开
2025-05-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 33/12申请日:20250217

共 50 条

[1]

超导薄膜的物理参数的测量装置及测量方法 [P].

曹宗正 ;

张定 .

中国专利 :CN119986489A ,2025-05-13

[2]

海洋物理声学参数的测量系统及测量方法 [P].

邹大鹏 ;

董嘉琪 ;

阚光明 ;

卢杰 ;

侯景成 .

中国专利 :CN115824309B ,2025-11-25

[3]

不规则非均质物体的物理参数测量装置及测量方法 [P].

何宗彦 .

中国专利 :CN102261932A ,2011-11-30

[4]

用于动态液滴物理参数测量的相位彩虹测量方法及装置 [P].

吴迎春 ;

吴学成 ;

高翔 ;

陈玲红 ;

邱坤赞 ;

骆仲泱 ;

岑可法 ;

石琳 .

中国专利 :CN108507912A ,2018-09-07

[5]

封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P].

李博强 ;

宫群 ;

卢韦珊 ;

朱贤龙 .

中国专利 :CN118011168A ,2024-05-10

[6]

封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P].

李博强 ;

宫群 ;

卢韦珊 ;

朱贤龙 .

中国专利 :CN118011168B ,2025-09-02

[7]

薄膜热导率的测量装置及测量方法 [P].

许威 ;

王晓毅 ;

赵晓锦 ;

杨亚涛 .

中国专利 :CN111157573B ,2020-05-15

[8]

薄膜参数测量方法及测量系统 [P].

秦康 ;

庄亚政 ;

张雷 .

中国专利 :CN120577234A ,2025-09-02

[9]

一种薄膜生产中物理参数的测量方法 [P].

徐程松 ;

刘伟雄 ;

谢明 ;

贺伟 ;

赵全山 ;

曾来荣 .

中国专利 :CN111337519A ,2020-06-26

[10]

多晶薄膜形貌的测量方法及测量装置 [P].

何小川 ;

翁羽翔 .

中国专利 :CN104729425A ,2015-06-24

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