基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510164199.X

申请日：

2025-02-14

公开(公告)号：

CN120107185B

公开(公告)日：

2025-09-23

发明(设计)人：

王光辉梁高明戴伟汤秀娟田正如

申请人：

华芯半导体科技有限公司华芯半导体研究院（北京）有限公司

申请人地址：

225500 江苏省泰州市姜堰区罗塘街道现代科技产业园（群东路88号）

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/774 G06V10/762 G06V10/82 G06V10/44 G06V10/74 G06V10/764 G06N3/0464 G06N3/084

代理机构：

南京明杰知识产权代理事务所(普通合伙) 32464

代理人：

吴玥

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-06	公开	公开
2025-09-23	授权	授权
2025-06-24	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250214

共 50 条

[1]

基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法 [P].

王光辉 ;

梁高明 ;

戴伟 ;

汤秀娟 ;

田正如 .

中国专利 :CN120107185A ,2025-06-06

[2]

基于视觉识别的缺陷检测方法及系统 [P].

郑勤奋 .

中国专利 :CN106127779A ,2016-11-16

[3]

基于视觉识别的变电站设备缺陷检测系统及方法 [P].

薛飞 ;

曹海欧 ;

季青 ;

季瑞 .

中国专利 :CN119130982B ,2025-04-29

[4]

基于视觉识别的变电站设备缺陷检测系统及方法 [P].

薛飞 ;

曹海欧 ;

季青 ;

季瑞 .

中国专利 :CN119130982A ,2024-12-13

[5]

基于机器视觉的芯片外观缺陷检测系统 [P].

江静 .

中国专利 :CN222050043U ,2024-11-22

[6]

基于视觉识别的线束缺陷检测方法及系统 [P].

张伟 ;

展学霞 ;

陈鑫 ;

葛肖肖 ;

李中磊 .

中国专利 :CN119090874A ,2024-12-06

[7]

基于视觉识别的线束缺陷检测方法及系统 [P].

张伟 ;

展学霞 ;

陈鑫 ;

葛肖肖 ;

李中磊 .

中国专利 :CN119090874B ,2025-03-14

[8]

基于图像识别的电表缺陷检测方法、系统及存储介质 [P].

帕哈尔丁·帕尔哈提 ;

李廷梁 ;

艾力夏提·艾尔肯 ;

王振磊 ;

张贵华 ;

宁国强 ;

于铧文 ;

祝翔鹏 ;

崔润霞 ;

王春辉 ;

费冠澎 .

中国专利 :CN119168968A ,2024-12-20

[9]

基于机器视觉的板材表面缺陷检测系统及方法 [P].

杨宇昊 ;

高瑞 ;

杨政东 .

中国专利 :CN119048472A ,2024-11-29

[10]

一种基于视觉识别的电池外观异常检测系统及方法 [P].

许国荣 ;

冯君 ;

陈雄健 ;

辛宁 ;

林志鹏 .

中国专利 :CN119269528B ,2025-05-30

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