半導体デバイス構造、および、当該半導体デバイス構造を形成する方法[ja]

被引:0
申请号
JP20250026522
申请日
2025-02-21
公开(公告)号
JP2025128059A
公开(公告)日
2025-09-02
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H10D30/01
IPC分类号
H01L21/3205 H01L21/768 H10D30/60 H10D30/62
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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半導体デバイスの空隙スペーサを形成する方法および半導体デバイス[ja] [P]. 
NGUYEN SON VAN ;
YAMASHITA TENKO ;
CHENG KANGGUO ;
THOMAS JASPER HAIGH JR ;
PARK CHANRO ;
ERIC LINIGER ;
LI JUNTAO ;
SANJAY MEHTA .
日本专利 :JP2022140451A ,2022-09-26
[7]
[9]
半導体デバイスおよび方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025514413A ,2025-05-02