一种测试用例的管理方法、装置、设备、介质及产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510747182.7

申请日：

2025-06-05

公开(公告)号：

CN120631767A

公开(公告)日：

2025-09-12

发明(设计)人：

姜蕾

申请人：

中国工商银行股份有限公司工银科技有限公司

申请人地址：

100140 北京市西城区复兴门内大街55号

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

陈雪颖

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250605
2025-09-12	公开	公开

共 50 条

[1]

一种测试用例回归方法、装置、设备、介质及产品 [P].

张红兵 ;

刘洁 ;

苏衍浩 ;

曹铸 .

中国专利 :CN119226066A ,2024-12-31

[2]

测试用例的生成、测试方法、设备、介质及程序产品 [P].

刘博 ;

陈舒翔 ;

邓袁 ;

张磊 ;

刘玉 ;

王珏 ;

傅远昌 .

中国专利 :CN119807049A ,2025-04-11

[3]

测试用例生成方法、装置、设备、介质及产品 [P].

喻旭东 ;

阮青松 .

中国专利 :CN119292918A ,2025-01-10

[4]

一种测试用例的管理方法、电子设备和介质 [P].

郭佳伟 ;

丁颖 ;

陈鹏 .

中国专利 :CN120780611B ,2025-12-02

[5]

一种测试用例的管理方法、电子设备和介质 [P].

郭佳伟 ;

丁颖 ;

陈鹏 .

中国专利 :CN120780611A ,2025-10-14

[6]

芯片验证测试用例的管理方法 [P].

柏帆 ;

袁博浒 .

中国专利 :CN102331967A ,2012-01-25

[7]

一种测试用例的自动管理方法及系统 [P].

韩坪良 ;

商伯涵 .

中国专利 :CN113704100A ,2021-11-26

[8]

回归测试用例筛选方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

袁野 ;

李晨阳 .

中国专利 :CN119357059A ,2025-01-24

[9]

测试用例构建方法、设备、存储介质及程序产品 [P].

甘陈卿 ;

陈柳杉 ;

孙毅恒 ;

梁昊 ;

马国俊 .

中国专利 :CN117349144A ,2024-01-05

[10]

一种测试用例生成方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

沈子宁 ;

宛海涛 ;

赵行前 ;

王奥迪 .

中国专利 :CN120849295A ,2025-10-28

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