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自参考散斑干涉测量系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510284619.8
申请日
:
2025-03-11
公开(公告)号
:
CN120063106B
公开(公告)日
:
2025-09-12
发明(设计)人
:
闫佩正
周信达
李杰
王永红
姜宏振
丁墨函
姚彦峰
李政豪
巴荣声
申请人
:
合肥工业大学
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址
:
230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号
IPC主分类号
:
G01B9/02
IPC分类号
:
G01B9/02015
G01B9/02055
G01B11/16
代理机构
:
北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542
代理人
:
朱克俭
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-12
授权
授权
2025-06-17
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 9/02申请日:20250311
2025-05-30
公开
公开
共 50 条
[1]
自参考散斑干涉测量系统
[P].
闫佩正
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机构:
合肥工业大学
合肥工业大学
闫佩正
;
周信达
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合肥工业大学
合肥工业大学
周信达
;
李杰
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合肥工业大学
合肥工业大学
李杰
;
王永红
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合肥工业大学
合肥工业大学
王永红
;
姜宏振
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合肥工业大学
合肥工业大学
姜宏振
;
丁墨函
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合肥工业大学
合肥工业大学
丁墨函
;
姚彦峰
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合肥工业大学
合肥工业大学
姚彦峰
;
李政豪
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机构:
合肥工业大学
合肥工业大学
李政豪
;
巴荣声
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机构:
合肥工业大学
合肥工业大学
巴荣声
.
中国专利
:CN120063106A
,2025-05-30
[2]
散斑干涉测量系统及方法
[P].
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闫佩正
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刘向玮
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丁墨函
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合肥工业大学
合肥工业大学
丁墨函
;
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机构:
王永红
.
中国专利
:CN120488984B
,2025-10-17
[3]
散斑干涉测量系统及方法
[P].
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闫佩正
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丁墨函
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合肥工业大学
合肥工业大学
丁墨函
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王永红
.
中国专利
:CN120488984A
,2025-08-15
[4]
散斑干涉与剪切散斑干涉的测量系统及测量方法
[P].
王永红
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王永红
;
赵琪涵
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赵琪涵
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陈维杰
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陈维杰
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孙方圆
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孙方圆
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钟诗民
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钟诗民
.
中国专利
:CN110108223B
,2019-08-09
[5]
环形共路剪切散斑干涉系统及方法
[P].
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丁墨函
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合肥工业大学
合肥工业大学
丁墨函
;
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潘万林
;
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王永红
.
中国专利
:CN120488941A
,2025-08-15
[6]
环形共路剪切散斑干涉系统及方法
[P].
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丁墨函
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合肥工业大学
合肥工业大学
丁墨函
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王永红
.
中国专利
:CN120488941B
,2025-10-28
[7]
基于散斑干涉的高灵敏度镜面变形测量系统及方法
[P].
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闫佩正
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周寒萱
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丁墨函
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合肥工业大学
合肥工业大学
丁墨函
;
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机构:
王永红
.
中国专利
:CN118129627B
,2024-08-02
[8]
基于散斑干涉的高灵敏度镜面变形测量系统及方法
[P].
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机构:
闫佩正
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机构:
周寒萱
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刘向玮
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丁墨函
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合肥工业大学
合肥工业大学
丁墨函
;
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机构:
王永红
.
中国专利
:CN118129627A
,2024-06-04
[9]
数字散斑干涉面内微小动态形变测量系统及测量方法
[P].
王永红
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王永红
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高新亚
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高新亚
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但西佐
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但西佐
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孙方圆
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孙方圆
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赵琪涵
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赵琪涵
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杨连祥
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杨连祥
.
中国专利
:CN106767489B
,2017-05-31
[10]
基于散斑干涉的变形和应变同步测量系统及测量方法
[P].
王永红
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王永红
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陈维杰
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陈维杰
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赵琪涵
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赵琪涵
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孙方圆
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孙方圆
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钟诗民
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钟诗民
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中国专利
:CN110118537A
,2019-08-13
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