自参考散斑干涉测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510284619.8
申请日
2025-03-11
公开(公告)号
CN120063106B
公开(公告)日
2025-09-12
发明(设计)人
闫佩正 周信达 李杰 王永红 姜宏振 丁墨函 姚彦峰 李政豪 巴荣声
申请人
合肥工业大学 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址
230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号
IPC主分类号
G01B9/02
IPC分类号
G01B9/02015 G01B9/02055 G01B11/16
代理机构
北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542
代理人
朱克俭
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
自参考散斑干涉测量系统 [P]. 
闫佩正 ;
周信达 ;
李杰 ;
王永红 ;
姜宏振 ;
丁墨函 ;
姚彦峰 ;
李政豪 ;
巴荣声 .
中国专利 :CN120063106A ,2025-05-30
[2]
散斑干涉测量系统及方法 [P]. 
闫佩正 ;
刘向玮 ;
丁墨函 ;
王永红 .
中国专利 :CN120488984B ,2025-10-17
[3]
散斑干涉测量系统及方法 [P]. 
闫佩正 ;
刘向玮 ;
丁墨函 ;
王永红 .
中国专利 :CN120488984A ,2025-08-15
[4]
散斑干涉与剪切散斑干涉的测量系统及测量方法 [P]. 
王永红 ;
赵琪涵 ;
陈维杰 ;
孙方圆 ;
钟诗民 .
中国专利 :CN110108223B ,2019-08-09
[5]
环形共路剪切散斑干涉系统及方法 [P]. 
闫佩正 ;
丁墨函 ;
刘向玮 ;
潘万林 ;
王永红 .
中国专利 :CN120488941A ,2025-08-15
[6]
环形共路剪切散斑干涉系统及方法 [P]. 
闫佩正 ;
丁墨函 ;
刘向玮 ;
潘万林 ;
王永红 .
中国专利 :CN120488941B ,2025-10-28
[7]
基于散斑干涉的高灵敏度镜面变形测量系统及方法 [P]. 
闫佩正 ;
周寒萱 ;
刘向玮 ;
丁墨函 ;
王永红 .
中国专利 :CN118129627B ,2024-08-02
[8]
基于散斑干涉的高灵敏度镜面变形测量系统及方法 [P]. 
闫佩正 ;
周寒萱 ;
刘向玮 ;
丁墨函 ;
王永红 .
中国专利 :CN118129627A ,2024-06-04
[9]
数字散斑干涉面内微小动态形变测量系统及测量方法 [P]. 
王永红 ;
高新亚 ;
但西佐 ;
孙方圆 ;
赵琪涵 ;
杨连祥 .
中国专利 :CN106767489B ,2017-05-31
[10]
基于散斑干涉的变形和应变同步测量系统及测量方法 [P]. 
王永红 ;
陈维杰 ;
赵琪涵 ;
孙方圆 ;
钟诗民 .
中国专利 :CN110118537A ,2019-08-13