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一种插损测试系统、插损测试方法、设备及介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510994750.3
申请日：
2025-07-18
公开(公告)号：
CN120652264A
公开(公告)日：
2025-09-16
发明(设计)人：
赫晓明 黄松义
申请人：
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
申请人地址：
250000 山东省济南市高新区港西路2177号港盛大厦4层401室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R27/26 G01R1/30 G01R1/20
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
韩静粉
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-16 公开 公开
2025-10-03 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250718
共 50 条
[1]
插损测试组件及插损测试系统 [P]. 
陈志明 ;
黄欣格 ;
张晓航 ;
段然 ;
杨靖 .
中国专利 :CN223272597U ,2025-08-26
[2]
一种线路板插损测试方法 [P]. 
李子达 ;
彭镜辉 ;
向参军 ;
陈俊玲 ;
黎钦源 .
中国专利 :CN120610148A ,2025-09-09
[3]
一种线路板插损测试方法 [P]. 
李子达 ;
彭镜辉 ;
向参军 ;
陈俊玲 ;
黎钦源 .
中国专利 :CN120610148B ,2025-10-28
[4]
一种阻断式多光纤插损测试系统 [P]. 
简斌 .
中国专利 :CN117168764B ,2025-01-28
[5]
光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统 [P]. 
肖思雄 ;
鲁佳 ;
何志龙 ;
莫育霖 ;
庄礼杰 .
中国专利 :CN108964754A ,2018-12-07
[6]
一种具有防护结构的插损测试夹具 [P]. 
刘勇 ;
马俊 .
中国专利 :CN222345358U ,2025-01-14
[7]
RF芯片线损测试方法、系统、可读储存介质及电子设备 [P]. 
马云峰 ;
戴文松 .
中国专利 :CN115372740A ,2022-11-22
[8]
射频测试系统线损测量设备及方法 [P]. 
崔康 ;
杜军红 ;
汤肖迅 .
中国专利 :CN113325244A ,2021-08-31
[9]
射频测试系统线损测量设备及方法 [P]. 
崔康 ;
杜军红 ;
汤肖迅 .
中国专利 :CN113325243A ,2021-08-31
[10]
射频测试系统线损测量设备及方法 [P]. 
崔康 ;
杜军红 ;
汤肖迅 .
中国专利 :CN113325243B ,2025-12-02
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