磁盘测试方法、磁盘综合测试系统及电子设备

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专利类型
发明
申请号
CN202510981153.7
申请日
2025-07-16
公开(公告)号
CN120766749A
公开(公告)日
2025-10-10
发明(设计)人
李杨琪 李占武 房玉震
申请人
超云数字技术集团有限公司
申请人地址
102628 北京市大兴区经济技术开发区科谷一街8号院1号楼6层601室(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
代理机构
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人
贺亚博
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
磁盘测试方法及磁盘测试器 [P]. 
设乐健一 ;
加藤治芳 .
中国专利 :CN101335017A ,2008-12-31
[2]
磁盘阵列测试方法、存储介质、电子设备及程序产品 [P]. 
刘粉粉 .
中国专利 :CN120066878A ,2025-05-30
[3]
电子测试仪器综合测试系统及测试方法 [P]. 
李业龙 ;
李俊士 ;
郭资鉴 ;
赵雷 ;
孔祥凯 ;
王涛 ;
王新 .
中国专利 :CN118625019A ,2024-09-10
[4]
磁盘重映射方法、装置及电子设备 [P]. 
雷延钊 ;
何革 .
中国专利 :CN104035886B ,2014-09-10
[5]
磁盘阵列测试系统及方法 [P]. 
彭辉 ;
陈志丰 .
中国专利 :CN102055780A ,2011-05-11
[6]
磁盘故障模拟测试的方法、装置及电子设备 [P]. 
宋弘毅 ;
郑彩平 ;
姜旭 ;
刘成科 .
中国专利 :CN111897684A ,2020-11-06
[7]
磁盘测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘瑞平 .
中国专利 :CN114048075A ,2022-02-15
[8]
磁盘阵列卡测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
江桂凤 ;
李志刚 .
中国专利 :CN118069442A ,2024-05-24
[9]
测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
代雪刚 ;
王勇 .
中国专利 :CN115617662A ,2023-01-17
[10]
磁盘的磁盘信息的处理方法、消磁系统及电子设备 [P]. 
石皓魁 ;
陆君杰 ;
路迪 .
中国专利 :CN114067845A ,2022-02-18